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MiniTest 725/735/745涂層測厚儀 德國EPK品牌
MINITEST 725/735/745涂層測厚儀技術數(shù)據(jù)表SIDSP探頭
F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5
F2
F5，N2.5，F(xiàn)N5
F15
F
F
F
F
測量范圍
0-1.5mm
0-0.7mm
0-2mm
0-5mm
0-2.5mm
0-15mm
使用范圍
小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用
粗糙表面
標準探頭，使用廣泛
厚涂層
測量原理
磁感應
電渦流
磁感應
磁感應
電渦流
磁感應
信號處理
探頭內部32位信號處理（SIDSP）
精確度
±（1μm+0.75%讀值）
±（1.5μm+0.75%讀值）
±（5μm+0.75%讀值）
重復性
±（0.5μm+0.5%讀值）
±（0.8μm+0.5%讀值）
±（2.5μm+0.5%讀值）
低端分辨率
0.05μm
0.1μm
1μm
小曲率半徑（凸）
1.0mm
1.5mm
5mm
小曲率半徑（凹，外置探頭）
7.5mm
10mm
25mm
小曲率半徑（凹，內置探頭）
30mm
30mm
30mm
小測量面積
Φ5mm
Φ10mm
Φ25mm
小基體厚度
0.3mm
40μm
0.5mm
0.5mm
40μm
1mm
連續(xù)模式下測量速度
每秒20個讀數(shù)
單值模式下大測量速度
每分鐘70個讀數(shù)
MINITEST 725/735/745涂層測厚儀主機
MINITEST 725
MINITEST 735
MINITEST 745
探頭類型
內置
外置
內置外置可換
數(shù)據(jù)記憶組數(shù)
10
10
100
存儲數(shù)據(jù)量
多10,000個
最多10,000個
最多100,000個
統(tǒng)計值
讀值個數(shù)，最小值，最大值，平均值，標準方差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計值（標準設置/自由配置）
校準程序符合國際標準和規(guī)范
ISO，SSPC，瑞典標準，澳大利亞標準
校準模式
出廠設置校準，零點校準，2點校準，3點校準，使用者可調節(jié)補償值
極限值監(jiān)控
聲、光報警提示超過極限值
測量單位
um，mm，cm；mils，inch，thou
操作溫度
-10℃-60℃
存放溫度
-20℃-70℃
數(shù)據(jù)接口
IrDA 1.0（紅外接口）
電源
2節(jié)AA電池
標準
DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840ASTM B244，B499，D7091，E376AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2
體積
157mm x 75.5mm x 49mm
重量
約175g
約210g
約175g（內置）/230g（外置）
探頭特性
型號特性
