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芯片激光開封機 laser decap 芯片IC失效分析試驗設備
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產品價格:(人民幣)
  • 規格:LK-LDECAP
  • 發貨地:廣東深圳市
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    商鋪名稱:鐳科激光技術

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    商品詳情

                                  激光開封機decap芯片開帽ic開封反向失效分析

      激光開封技術也可以在不破壞芯片或者電路的整體功能的前提下,去除局部的塑封材料,進行測試甚至修復實驗。與化學開封技術相比,激光開封更加高效,同時避免了減少強酸環境暴露。

      主要用于對集成電路開蓋,露出晶圓及綁定金銅銀線,用于研究測試及修復功能。從而提升技術及質量品控效果。鐳科LK開封系統功能強大,支持掃描影像導入功能,根據圖形分析自定義設計開封路徑或者圖案等等功能。


      售前服務: 1、我們會在半個工作日之內,為您提供相關技術支持和產品行業資料。

             2、我們將為您提供免費打樣等相關便利條件。

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