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xrf元素分析儀

xrf元素分析儀thick800a產品介紹：

是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型高端儀器。主要應用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

xrf元素分析儀thick800a性能優勢：

精密的三維移動平臺
卓越的樣品觀測系統
先進的圖像識別 
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器，自動切換
雙重保護措施，實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度
全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位 
開蓋自動退出樣品臺，升起z軸測試平臺，方便放樣 
關蓋推進樣品臺，下降z軸測試平臺并自動完成對焦 
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點 
點擊軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示測試結果

xrf元素分析儀thick800a技術指標：

分析元素范圍：從硫（s）到鈾（u） 
同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層
檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
分析含量：一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
穩定性：可達0.1%
sdd探測器：分辨率低至135ev
采用先進的微孔準直技術，小孔徑達0.1mm，小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm、ф0.1mm、ф0.2mm與 
ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸：690（w）x 575（d）x 660（h）mm
樣品室尺寸：520（w）x 395（d）x150（h）mm
樣品臺尺寸：393(w)x 258 (d）mm
x/y/z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
x/y/z平臺重復定位精度 ：小于0.1um
操作環境濕度：≤90%
操作環境溫度 15℃～30℃