一、醫療儀器故障原因
1、操作者
2、環境
3、儀器本身。
有關故障不外乎來源于這三個組成部分。所以接到儀器故障報告后，首先就要了解故障現象，基于對儀器工作原理的了解和綜合分析，確定故障來源采取相應措施。若確認儀器本身有故障，這將是本文所要論述的。
二．故障分析
對故障現象進行分析，基于對儀器原理的了解及面板的操作確定故障大致部位的方法。這是維修方法中最常見、最重要且貫穿整個維修過程的方法。、
1、替代變換法
此法是指用性能正常的元器件或IC板替換有疑問的，以幫助確定故障來源的方法 此法常用于確定板級故障。
2、比較法
此法是將有故障的儀器與同型號正常儀器的工作特征、波形、電壓等進行測量比較，從而分析確定故障原因的方法。用此法時須注意在比較測量時，儀器外部的條件：控制開關、旋視、按鍵、電源等設置必須相同。
3、測量分析法
根據電路原理測量有關點的電壓、電流、電阻及波形等參數，然后分析測得參數是否與被測電路原理相符，從而發現故障原因的方法。這是維修中必不可少的一種基本檢修方法。通常有斷電測量和通電測量兩種方式。
4、信號追蹤法
采用分割電路追蹤信號來分析故障的方法，也是最基本的維修技術之一。常用此法能快速大致確定故障部位，再運用測量分析法確定具體故障元件
局部測試技巧：
分離法
將某一部分有疑點的電路分離出來，單獨提供電源供給，測試分析判斷該電路是否正常。或是電源電路維修時，若多路負載中有一路短路，用分離法可快速找出故障負載。
信號注入法
對邏輯電路而言，可從輸入端注入適當邏輯信號，逐級測量各輸出是否正常，從而判斷整個電路有無故障的方法。對模擬電路亦可根據原理，加入合適模擬信號測試。
變溫法
對熱穩定性差導致參數改變的故障或間歇性故障，常可通過局部升溫或降溫的方法進行測試，分析發現故障所在。可用電吹風或速凍劑產生局部升溫或冷卻的外部條件。使用時應注意：一要局部；二要適當，以免損壞正常元件。
敲擊法
對于虛焊或接插件等接觸不良引起的間歇性故障，可用此法幫助判定故障。
3． 間歇性故障修理
大多數間歇性故障是由于存在虛焊點，接插件接觸不好，接線斷裂或PC板個別導跡短路，元件熱穩定性變差等原因引起。間歇性故障修理最實用的方法為故障分析法結合換板替代法、敲擊法或變溫法等，找出故障部位。對于虛焊點或IC之類引腳與板之間斷裂常采取重焊，懷疑部位作清潔處理來修復。
修理間歇性故障最后一法是變間歇性故障為永久性故障，即基于一定條件進行強度試驗，用邊振動邊升溫等方法將間歇性故障改變成永久性故障。但此法不易掌握，運用不好有可能擴大故障，應用時應慎重。
舉例Nova3natriX500C脈搏血氧儀故障排除：
開機后三個LCD顯示屏均顯示888，且所有發光LED亮，聲報警響約10秒后，停頓一下又重復報警。
檢修時，發現該故障為間歇性。開始懷疑是CPU板諸如Reset電路故障引起，經換板測試排除此可能。該儀器共有三塊插入式電路板包括電源板、顯示控制、模擬數字處理等。仔細閱讀維修手冊，發現該機若在按電源開關同時按軟鍵2，則儀器進入如故障現象所述的一種特殊自檢狀態，只是十秒后應自動進入工作狀態。檢查軟鍵2發現觸摸開頭已略微變形，導致接觸不好，經74C922編碼器編碼造成故障。修理此開關故障即排除。
4． 干擾與噪音對策
干擾與噪音是心電、腦電及許多醫療儀器時常碰到的問題，是維修人員甚為頭痛的故障之一。若確認是干擾與噪音之后，要區別來源，即來自外部還是來自儀器內部。干擾與噪音究其本質有三大類：①與信號不可分噪音；②本質噪音，如熱穩定性差等；③由晶體管電路、集成電路自激引起的干擾噪音。確認來自外部還是內部的主要方法如下：觀察問題是否一直存在，若是，一般來自內部；若不是，大都為外部干擾。
常見的儀器內部噪音與干擾起因有如下兩大類：
(1)元器件故障
金屬膜電阻及紙介、陶瓷、云母電容器失效方式之一便是導致干擾，引起噪音。
可變電阻滑臂下有灰塵或其它異物存在。
半導體電路包括集成電路自激振蕩。
接插件、開關、繼電器等老化、腐蝕、聚集灰塵、連接松懈或有靜電聚集
相應電路如電源濾波變差等。
(2)機械干擾源
接線或連接電纜有斷線
儀器機械連接松懈，如電路板與電路板之間連接螺栓或螺絲松動。
布局不合理引起干擾，通常信號線應盡量遠離電源線9小信號線應盡量遠離電平信號線。
高壓電路同灰塵聚集放電。
屏蔽變差，地線連接松懈等。
所有連接電纜線、連接線、有底座集成電路，在拆卸后重裝時須準確，不能顛倒安放。除了應逐一作記號幫助準確安裝以外，應牢記即使部分電路板、電纜、IC集成塊有缺口識別反插不能到位，還因有的無此保護措施。
加注入信號或電路上人為短路需綜合考慮，不能超過允許范圍，以免損壞元器件。
運用換板法時，至少要確認故障儀器電源無故障，以免將好板損壞。
靜電破壞。美國許多大公司做過許多實驗，證實人體經常隨身攜帶的靜電可對許多電子元件產生災難性的破壞。因此，維修過程中應格外小心注意。有時靜電破壞的后果不是即刻顯示，可在日后表現為故障。人們通常認為只有CMOS才對靜電特別敏感，事實并非如此，JFET、小電流可控硅、特高頻三極管、大規模集成電路等同樣敏感，其余大部分電子元件也都程度不同地易受靜電破壞。許多人認為只有未安裝元件才可能遭受靜電破壞，其實不盡然，只有在電路設計時對敏感端都設保護電路這種觀點才對，而事實上做不到這一點。此外，許多人認為低溫度環境才有可能造成靜電破壞，這種觀點也不全面。高濕度使靜電不易積累，因此與低溫度環境相比靜電破壞少些，但并非沒有。
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