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IT51系列電池內阻測試儀是一款高精度,高穩定性的電池測試儀，可同時測量電池的內阻和電壓。IT51可以把電池內阻的測試結果進行批量保存、統計分析，并且用列表或正態分布圖顯示統計結果。電池生產企業生產部門和研發部門可以根據電池內阻檢測的分析結果，對電池的生產情況加以調整，進而提高產品的質量和安全。近，某品牌因為其新款手機電池而在全球范圍內召回，使得這家科技巨頭的電池成為了各界關注的焦點。
美國威創Viatran   5705BPSX1052   壓力傳感器 

美國威創Viatran   5093BMST85  壓力傳感器 

美國威創Viatran   423BFSX1413  壓力傳感器

美國威創Viatran    510BPSNK   壓力傳感器 

美國威創Viatran    520BQS    壓力傳感器

美國威創Viatran    510BPS    壓力傳感器 

美國威創Viatran   5098PPS    壓力傳感器

美國威創Viatran   5093BPS     壓力傳感器  

美國威創Viatran   5093BQS    壓力傳感器 

9011073 右側觸摸屏主機  CAMERON

9011074  左側觸摸屏主機  CAMERON

9001695    左手柄         CAMERON

9001694    右手柄       CAMERON

9015459    左觸摸屏     CAMERON

9015460    右觸摸屏     CAMERON

9005068     顯示屏      CAMERON

381464-03-01   壓力調節電路板    CAMERON

381243-03-01   信號電路板        CAMERON

VALVE-DISCHARGE  排放閥  CAMERON  Z630-662-001

CAMERON 美國 Z630-662-001 排放閥

VALVE-SUCTION  吸入閥   CAMERON  Z630-661-001

CONCENTRIC VAVLE        CAMERON  Z630-647-003

吸入閥  VALVE-SUCTTON   CAMERON  Z630-649-002

排放閥 VALVE-DISCHARGE   CAMERON  Z630-650-001

預失真器PRWMIER P55U   CAMERON   Z904-462-001

固定器RETAINER-VAVLE   CAMERON   Z630-264-001

固定器RETAINER-VAVLE   CAMERON    Z630-260-001

給出信號實際波形和假波的圖形，從圖中可以直觀的看出假波和實際波形的區別。隨后會討論假波形成原因、特征以及如何判斷測量中是否出現假波現象。假波現象形成的原因了解假波現象如何形成，就得要知道數字示波器的工作原理。是數字示波器工作原理框圖，與模擬示波器不同，數字示波器通過模數轉換器（ADC）把被測電壓轉換為數字信息。它捕獲的是波形的一系列樣值，并對樣值進行存儲，存儲限度是判斷累計的樣值是否能描繪出波形為止。

RETAINER-VAVLE    CAMERON    Z630-264-005固定器

過濾頭FILTER HEAD  CAMERON    Z630-780-001

美國SOR 壓力/壓差開關 4NN-EE5-N4-B1A-371

美國SOR 壓力/壓差開關101NN-EE3-M4-C1A-XX373

美國SOR 壓力/壓差開關9NN-K5-N4-F1A-200-1000 PSI

美國SOR 壓力/壓差開關5NN-K45-N4-F1A-45-550 PSI

美國SOR 壓力/壓差開關 4NN-KK4-M4-C1A

美國SOR 壓力/壓差開關 4NN-K45-M4-C1A

美國SOR 壓力/壓差開關 9NN-K45-N1-FIA

美國SOR 壓力/壓差開關 12NN-K45-C1A

美國SOR 壓力/壓差開關  12NN-K45-N4-CIA

美國SOR壓力開關/差壓開關2NN-L3-S1-01A

美國SOR壓力開關/差壓開關203NN-K105-U9-C7A-X

美國SOR壓力開關/差壓開關201NN-K135-U9-C7A-X

美國SOR壓力開關/差壓開關201NN-K115-U9-C7A-X

美國SOR壓力/壓差開關54NN-K118-M4-B1A-X

美國SOR壓力/壓差開關54NN-K118-M4-C1A-X

測試時，探針壓在PCB表面的待測點，然后通電測試每個網點的通斷，并報告存在的短路和斷路缺陷。其局限在于只能檢測短路和斷路兩種缺陷，缺口、針孔和殘留銅等其它缺陷都無法檢測。針床夾具的成本過高，小批量生產不合適；但是隨著電子組裝向更高密度、更小尺寸、更復雜的PCB混合技術的縱深發展，僅依靠人眼檢測或電測試印制電路板的質量無法滿足品質要求。為提高產品質量，減少進入下步工序的有缺陷電路板的數量，對PCB檢測中的關鍵設備----自動光學檢測(AOI)系統的需求也越來越大。
美國SOR 壓力/壓差開關5NN-K45-N4-F1A

美國SOR 壓力/壓差開關1NN-K45-N4-F1A-XX371

美國SOR 壓力/壓差開關4NN-KK4-M4-C1A-2-25