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EDX 4500H 天瑞儀器X熒光光譜儀，憑借其獨特的XRF檢測原理，讓各種元素成分的快速、準(zhǔn)確、無損分析成為可能。這個強大的儀器不僅能對輕元素如Si、P、S、Al、Mg進(jìn)行出色的激發(fā)，還能利用XRF技術(shù)對高含量的Cr、Ni、Mo等受關(guān)注的元素進(jìn)行精確分析。在冶煉過程中，它憑借測試時間短的優(yōu)勢，大大提高了檢測效率和工作效率。

此外，EDX 4500H X熒光光譜儀在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應(yīng)用等領(lǐng)域也表現(xiàn)出色。

這款儀器的性能特點讓人眼前一亮。超薄窗X光管與數(shù)字多道技術(shù)的結(jié)合，使測試更快、計數(shù)率高達(dá)100000CPS，準(zhǔn)度更高，讓合金檢測效果更佳。FAST-SDD探測器擁有良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，以及較高的峰背比，讓元素的能量分辨更加精準(zhǔn)。

低能X射線激發(fā)待測元素，對輕元素如Si、P的激發(fā)效果卓越。智能抽真空系統(tǒng)有效地屏蔽了空氣的影響，擴展了測試的范圍。自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性，使分析結(jié)果更加可靠。

此外，高信噪比的電子線路單元、針對不同樣品自動切換準(zhǔn)直器和濾光片的功能、解譜技術(shù)使譜峰分解等特性，都體現(xiàn)了EDX 4500H X熒光光譜儀的專業(yè)性和便捷性。內(nèi)置高清晰攝像頭和液晶屏顯示使儀器的各項重要參數(shù)一目了然，讓操作更加便捷。

在技術(shù)參數(shù)方面，EDX 4500H X熒光光譜儀具有廣泛的測量元素范圍，從鈉（Na）到鈾（U），對于各種元素的含量分析范圍也十分廣泛。同時，它可以一次性測量幾十種元素，測量時間僅需30秒-200秒。探測器的能量分辨率為145±5eV，保證了元素的精確能量測定。

在穩(wěn)定性方面，管壓可達(dá)5KV-50KV，管流可達(dá)50μA-1000μA，保證了儀器的持續(xù)穩(wěn)定運行。對于不同狀態(tài)的測量對象如粉末、固體、液體，它都能輕松應(yīng)對。輸入電壓為AC 110V/220V，適應(yīng)各種電源環(huán)境。

在應(yīng)用領(lǐng)域方面，EDX 4500H X熒光光譜儀廣泛應(yīng)用于合金檢測、全元素分析、有害元素檢測等多個領(lǐng)域。無論是質(zhì)量檢測還是成分分析，它都能提供準(zhǔn)確可靠的結(jié)果。

總的來說，EDX 4500H X熒光光譜儀是一款功能強大、操作便捷、結(jié)果準(zhǔn)確的儀器，是您進(jìn)行元素分析的最佳選擇。無論是科研還是工業(yè)生產(chǎn)，它都能為您提供準(zhǔn)確可靠的分析結(jié)果。