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TOS7210S日本菊水絕緣電阻測試儀基本介紹

PID絕緣測試儀（TOS7210S）是為準確有效地對太陽能電池模塊的PID現象進行評估,

以絕緣電阻測試儀（TOS7200）為基礎設計而成的測試儀,

可在50Vdc-2000Vdc（分辨率1V）范圍內實施設定,

絕緣電阻試驗測量范圍：0.01MΩ——5000MΩ(DC50V——2000V)

?????????????????????????????????????? 0.000μA——1900μA（DC50V——2000V）

標配RS-232C接口

TOS7210S日本菊水絕緣電阻測試儀性能特點

陣容

型號規格 ? ? ? ? ? ? ? ?TOS7210S (SPEC80776)PID絕緣測試儀（TOS7210S）是為準確有效地對太陽能電池模塊的PID(Potential Induced Degradation)現象進行評估, 以絕緣電阻測試儀（TOS7200）為基礎設計而成的測試儀, 可在50Vdc-2000Vdc（分辨率1V）范圍內實施設定, 可通過面板側的開關即時切換施加電壓極性, 輸出端子與接地電位間為浮地狀態, 只測量通過測量點間的電流. 可對電流測量值或電阻測量值進行切換顯示, 測試線（TL51-TOS）

TOS7210S日本菊水絕緣電阻測試儀技術參數

概要

PID絕緣測試儀（TOS7210S）是為準確有效地對太陽能電池模塊的PID(Potential Induced Degradation)現象進行評估，以絕緣電阻測試儀（TOS7200）為基礎設計而成的測試儀。?
附有極性切換功能，輸出電壓可達2000V,同時裝載了n 分辨率的電流表，因此不僅可以進行PID評估，還可以用于要求進行高敏感度測試的絕緣體評估測試。標準安裝了可從外部調用的面板存儲器及RS232C接口，因此也可以靈活對應自動化系統。

什么是PID現象?
PID現象是指太陽能電池與邊框長期被施以高電壓，電池發電量降低的現象。目前認為所施加的電壓越高，越是在高溫、高濕的環境下劣化現象越嚴重。如晶體硅太陽能電池模塊的輸出電壓即使只有數十V，一旦直接連接的片數增加，串內的電位差將變得非常高。一方面，PCS（Power Conditioning System）作為交流電源與系統相連,使接地形態發生變化。輸入端采用浮接（一側電極不能接地線）的無變壓器方式近年有所增加。這種情況下電池和地線間將發生高電位差。現在可明確的是，晶體硅太陽能電池模塊中，相對于邊框（接地線）負極電位高的電池容易發生PID現象。（請參照圖1）目前，日本國內以 大600V、歐洲以 大1000V的系統電壓運行太陽能電池模塊，但是目前出現了提高 大系統電壓以削減企業用大規模太陽能發電系統的串數、PCS總數，提高發電效率的趨勢。?

圖2模擬了晶體硅太陽能電池模塊的處于高電位差的狀況。邊框為正極電位、模塊電路處于負極高電位的狀況。目前認為是由于超白鋼化玻璃內的鈉離子向電池側遷移而引起劣化。（薄膜太陽能電池模塊也被確認出現PID現象，但是發生劣化的機制與晶體硅太陽能電池模塊不同。）現在，各種研究機構正在通過研究、試驗查找PID現象的原因。

TOS7210S日本菊水絕緣電阻測試儀使用說明

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