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特性阻抗測試儀Controlled Impedance Test System
CITS900S4 規格說明：
特性阻抗測試系統(Controlled Impedance test systems)，型號：CITS900S4，生產商：英國 POLAR
公司，
POLAR CITS900S4 提供了電路板控制阻抗量測的唯一解決方案,此卓越量測系統特別設計用于
PCB 生產線環境,操作極簡單.
CITS900S4 由 32bit 軟件控制,使用 TDR 技術去量測快速上升時間之脈波的反射信號,提供沿著銅軌
長度上的圖形化特性阻抗顯示.
每臺 CITS900S4 的整個電阻量測范圍上,確保皆為高精度性能,因為使用 32bit 軟件,并于出廠前使用
可追塑至國際標準的 28,50,75 及 100ohm 的標準 Airline 作 4 點全范圍自動校正,另用 resistor box 對
150，180 檔位進行校正，并提供校正報告.
此系統提供了 PCB 單端線路及差動線路的簡易,準確測量方法。
測量控制阻抗
阻抗測量通常使用時域反射計 (TDR) 來完成。TDR 通過控制阻抗線纜和探針向試樣應用快速電壓
步長。任何脈沖微波中的反射都將顯示在 TDR 上，并且表示阻抗值的變化（稱為不連續性。）TDR
可以表明不連續性的位置和幅度。使用適當的軟件，TDR 可以繪制試樣的測試跡線長度上的阻抗
圖。所生成的跡線特性阻抗的圖形化表示將允許在生產環境中執行此前所述的復雜測量。