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| 品牌：美國泛美 | 型號：D7080 | 加工定制：否 | ||||
| 類型：超聲波 | 測量范圍：8*9 | 分辨率：20*22 | ||||
| 尺寸：12 mm | 重量：0.05 kg |
美國泛美超聲波探傷儀測頭
介紹
高頻探頭：
高頻探頭包括延遲塊探頭和聚焦水浸探頭。這些探頭的頻率范圍在20 MHz至225
MHz之間。高頻延遲塊探頭可以對厚度薄如0.010毫米（0.0004英寸）的材料進行厚度測量（取決于材料、
探頭、表面條件、溫度和設(shè)置）。高頻聚焦水浸探頭是對硅制微型芯片等具有低衰減性的薄材料進行高分
辨率成像和缺陷探測應(yīng)用的理想探頭。
高頻探頭為單晶接觸式或水浸式探頭，可產(chǎn)生等于或高于20 MHz的頻率。
優(yōu)勢
? 強阻尼寬帶設(shè)計提供了的時間分辨率。
? 短波長可獲得極強的缺陷分辨率能力。
? 直徑極小的聲束也可以聚焦。
? 頻率范圍為20 MHz到225 MHz。
應(yīng)用
? 高分辨率缺陷探測，如：微孔隙檢測或微裂紋檢測。
? 表面斷裂或不平整性的C掃描成像。
? 可測量薄如0.010毫米（0.0004英寸）材料的厚度*。
? 可對陶瓷及工程材料進行檢測。
? 可對材料進行分析。
*厚度范圍取決于材料、探頭、表面條件、溫度及所選的的設(shè)置。高頻接觸式
? 使用直接接觸檢測法時，利用永久熔融石英延遲塊可進行缺陷評價、材料分析或厚度測量。
? 3種不同延遲塊的配置（BA、BB、BC）可形成多種延遲塊回波的組合。
? 其標準連接器類型為直角Microdot（RM）。
雙晶探頭在同一個外殼中裝有由隔音屏障分開的兩個晶片。一個晶片發(fā)射縱波，另一個晶片作為接收器接收聲波。
優(yōu)勢
? 改進了近表面的分辨率。? 可與曲面工件外形相吻合，緊貼在工件的表面。
? 1.8米（6英尺）帶BNC連接器的高強度柔韌的密封線纜。
| 頻率 | 標稱晶片尺寸 | 屋頂角 | 探頭工件編號 | |
| MHz | 英寸 | 毫米 | (°) | |
| 2.25 | 1 | 25 | 0 | D7079 |
| 0.5 | 13 | 0 | D7071 | |
| 0.5 | 13 | 1.5 | D7072 | |
| 0.5 | 13 | 2.6 | D7074 | |
| 0.5 | 13 | 3.5 | D7073 | |
| 5 | 1 | 25 | 0 | D7080 |
| 0.5 | 13 | 0 | D7075 | |
| 0.5 | 13 | 1.5 | D7076 | |
| 0.5 | 13 | 2.6 | D7078 | |
| 0.5 | 13 | 3.5 | D7077 | |
