南麟LN709C2641VR-G
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內(nèi)置延時(shí)高精度低功耗電壓檢測(cè)
■ 產(chǎn)品概述
LN709 系列是為微處理器和電子系統(tǒng)提供低功耗電壓
檢測(cè)芯片，具高精度低溫漂的特點(diǎn)。該系列產(chǎn)品檢測(cè)電壓基
本涵蓋大部分電子產(chǎn)品的需求。低靜態(tài)電流是其重要的優(yōu)點(diǎn)。
產(chǎn)品系列中包含了 CMOS 輸出和漏端開(kāi)路的 N 管輸出。由
于內(nèi)置延時(shí)，減少了應(yīng)用電路中的外圍器件。
■ 產(chǎn)品特點(diǎn)
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高精度：± 2%
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低功耗：小于 1.5μA
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檢測(cè)電壓點(diǎn)：2.63V,2.93V,3.08V,4.0V,4.38V 和 4.63V
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工作范圍：0.7V ~6.0V
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檢測(cè)電壓溫度特性：±100ppm/℃(TYP.)
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內(nèi)置延時(shí)：典型值 50ms,100ms,200ms,400ms 可選。
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輸出方式：N 管漏端開(kāi)路或 CMOS
■ 用途
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微處理器復(fù)位電路
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記憶體電池備份電路
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電源上電復(fù)位電路
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電源無(wú)效檢測(cè)
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系統(tǒng)電池壽命和充電電壓監(jiān)測(cè)
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延遲電路
■ 封裝
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SOT23-3L
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SOT23-3B
