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 超聲波測厚儀 38DL PLUS

38DL PLUS測厚儀是一款開創超聲測厚技術新時代的創新型儀器。這款手持式測厚儀可完美地適用于幾乎所有超聲測厚應用，而且與所有雙晶和單晶探頭完全兼容。功能齊全的38DL PLUS測厚儀可用于各種應用，包括使用雙晶探頭對內壁腐蝕的管件進行的管壁減薄的測量，以及使用單晶探頭對薄壁或多層材料進行的極其精確的壁厚測量。 

主要特性
- 可與雙晶和單晶探頭兼容。 
- 寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據材料和所選探頭而定。 
- 使用雙晶探頭進行腐蝕測厚。 
- 穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。 
- 內部氧化層/沉積物軟件選項。 
- 對于所有探頭，標準分辨率為0.01毫米。 
- 使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001毫米的厚度測量。 
- 多層軟件選項可對多達4個不同層同時進行測量。 
- 高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。 
- 厚度、聲速和渡越時間測量。 
- 差分模式和縮減率模式。 
- 時基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個可查讀數。 
- 帶有數字式過濾器的Olympus高動態增益技術。 
- 用于自定義V聲程補償的V聲程創建功能。 
- 設計符合EN15317標準。

可選的編碼B掃描
這種強大的可選功能允許38DL PLUS連接到線性編碼掃描儀以生成編碼的B掃描。 38DL PLUS將捕獲并存儲距離傳播信息以及相應的厚度讀數。 也捕獲最小厚度的波形。 用戶可以選擇測量之間的距離，并在雙向和單向模式之間進行選擇。 在單次B掃描中最多可存儲10,000個厚度讀數。
穿透涂層技術
使用單個底面回波測量金屬的實際厚度。使用這個技術可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個厚度都根據它們各自正確的材料聲速值得到了調整。因此，要測量金屬的厚度，不再需要減去表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。
溫度補償
材料溫度的變化影響聲速和厚度測量的精度。 溫度補償功能允許您手動輸入校準模塊的溫度和測量點的電流（高）溫度。 38DL PLUS自動顯示溫度校正厚度。
氧化層/沉積物測量（可選項）
38DL PLUS使用高級算法測量鍋爐管件內壁氧化層/沉積物的厚度。測厚儀同時顯示鍋爐管件的金屬基底厚度和氧化層的厚度。了解氧化層/沉積物的厚度可以預測管件的壽命。建議在此項應用中使用M2017或M2091探頭。
V聲程創建功能
用戶使用這項正等待專利通過的新功能可以為幾乎所有雙晶探頭創建一條自定義V聲程補償曲線。在為大多數雙晶探頭保存和調用自定義設置時，這條曲線也被同時保存和調用。
用戶只需校準并輸入已知厚度值（最小3個校準點；最大10個校準點），儀器就會創建V聲程補償曲線。
自動探頭識別
所有標準的雙晶探頭都具有自動探頭識別功能。這個功能可以為每種不同類型的探頭自動調用默認V聲程校正。