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無錫二次元測量儀探測系統(tǒng)的關(guān)鍵
對無錫二次元測量儀探測系統(tǒng)主要還是集中在選擇測頭上，下面了解一下在選用無錫二次元測頭時需要考慮到的以下幾點：
1）在考慮成本但要求只測位置、尺寸等要素的情況下，可以采用接觸式觸發(fā)測頭。觸發(fā)體積較小，當測量空間狹窄時測頭易于接近零件，在大量的幾何量測量中，僅是對零件的尺寸及位置精度有要求時，接觸式觸發(fā)測量是非常合適的。
2）在對離散點進行測量及對形狀和輪廓精度要求較高的情況下，可以選用掃描測頭。掃描測頭測點有更高的精度，對離散點測量是勻速或恒測力采點，掃描測量能高速的采集數(shù)據(jù)，這些數(shù)據(jù)不僅可以用來確定零件的尺寸及位置，更重要的是可以用眾多的點來精確的描述形狀、輪廓，由于零件形狀直接影響零件的性能，所以掃描測頭適用于對形狀、輪廓有嚴格要求的零件，且掃描測頭對離散點的測量也適用嚴格定位、定向測量。
3）對精度不高、容易變形的零件，或者要求很大量數(shù)據(jù)零件的測量，可以考慮選擇非接觸式測頭，但在可以應用接觸式測頭的情況下，不要選擇非接觸式測頭。非接觸測頭沒有測量力，適于柔軟物體；非接觸式測頭取樣率高，由于受物體表面特性形狀，粗糙度等的影響較大，示值誤差比接觸式測頭要大。（http://www.snicety-china.com/）
