AB羅克韋爾1746-BTM模塊
CME-C1是京微雅格新近推出的高性能大容量“云”系列首顆產(chǎn)品，邏輯容量折合2萬門級(jí)。CME-C1采用TSMC4nm先進(jìn)工藝，采用全新的6輸入查找表架構(gòu)，獨(dú)創(chuàng)36x18的DSP單元，內(nèi)嵌大容量每塊18K位ram，高速串行接口可達(dá)6.5Gbps，通用差分I/O可達(dá)1.3Gbps，同時(shí)還內(nèi)置硬核PCIe支持5G速率GenDDR3/2控制器以及PHY讀寫速率可達(dá)1333Mbps，各項(xiàng)指標(biāo)均達(dá)國內(nèi)水平。
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真誠服務(wù) 誠信合作 歡迎您的垂詢！！！
分工頻耐壓試驗(yàn)和直流耐壓試驗(yàn)兩種。工頻耐壓試驗(yàn)其試驗(yàn)電壓為被試設(shè)備額定電壓的一倍多至數(shù)倍，不低于1000V。其加壓時(shí)間：對(duì)于以瓷和液體為主要絕緣的設(shè)備為1分鐘，對(duì)于以有機(jī)固體為主要絕緣的設(shè)備為5分鐘，對(duì)于電壓互感器為3分鐘，對(duì)于油浸電力電纜為10分鐘。電氣設(shè)備經(jīng)耐壓試驗(yàn)?zāi)軌虬l(fā)現(xiàn)絕緣的局部缺陷、受潮及老化。交流耐壓試驗(yàn)：在被試設(shè)備電壓的2.5倍及以上進(jìn)行，從介質(zhì)損失的熱擊穿觀點(diǎn)出發(fā)，可以有效地發(fā)現(xiàn)局部游離性缺陷及絕緣老化的弱點(diǎn)。
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80360473-001 《鴻飛達(dá)自動(dòng)化科技優(yōu)價(jià)巨力奉獻(xiàn)》
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了解你的被測(cè)試裝置被測(cè)試裝置（DUT）的性能會(huì)顯著影響射頻測(cè)量。，溫度會(huì)影響穩(wěn)定性，并因此與可重復(fù)性密切相關(guān)。許多射頻器件和射頻儀器沒有對(duì)溫度變化的內(nèi)部補(bǔ)償。它們必須在穩(wěn)定的溫度下工作以使溫度漂移引起的測(cè)量誤差。當(dāng)前的環(huán)境（，空調(diào)循環(huán)的開啟與關(guān)閉，覆蓋物和面板的移除或增加，處于戶外或室內(nèi)，以及是否接近熱源）會(huì)有很大影響。需要注意適當(dāng)?shù)念A(yù)熱時(shí)間、被測(cè)試裝置的冷卻需求和周邊的環(huán)境以確保溫度穩(wěn)定性。
