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QFN58-0.35芯片測試座支持NB-IoTSOC測試老化失效分析半導體測試
QFN58-0.35芯片測試座支持NB-IoTSOC測試老化失效分析半導體測試
產品價格:¥356.00(人民幣)
  • 規格:QFN58(6*6)-0.35-0091TGH
  • 發貨地:廣東深圳
  • 品牌:
  • 最小起訂量:1
  • 免費會員
    會員級別:試用會員
    認證類型:企業認證
    企業證件:通過認證

    商鋪名稱:深圳市鴻怡電子有限公司

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    商品詳情
      產品參數
      型號QFN58(6*6)-0.35-0091TGH
      封裝/規格插件
      類型DIP
      間距0.35
      總針腳數58 1
      圓孔/方孔圓孔
      觸頭鍍層
      工作溫度范圍-45~155℃
      包裝盒裝
      認證機構CE
      最小包裝量1
      數量1
      封裝QFN
      批號以出貨為準
      支持芯片NB-IoT
      測試用途老化測試
      品牌ANDK

      QFN58-0.35-6*6-0091TGH芯片測試座
      1.引腳:58 signal Pin 1 GND;
      2.間距:0.35mm
      3.尺寸:6*6mm
      4.Insulation Resistance:1000MΩ At 500V DC
      5.Dielectic Withstanding Voltage:700V AC @ 1Min
      6.Contact Resistance:≤50mΩ@10mA/20mV(initial)
      7.Temperature:-45~155℃
      8.Current Rating:1A Max.










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