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QFN16-0.5-3x3翻蓋彈片老化座MCUflash電源芯片可靠性耐久性測試
QFN16-0.5-3x3翻蓋彈片老化座MCUflash電源芯片可靠性耐久性測試
產(chǎn)品價(jià)格:¥68.00(人民幣)
  • 規(guī)格:QFN16-0.53*3翻蓋彈片老化座(帶頂針)
  • 發(fā)貨地:廣東深圳
  • 品牌:
  • 最小起訂量:1
  • 免費(fèi)會(huì)員
    會(huì)員級別:試用會(huì)員
    認(rèn)證類型:企業(yè)認(rèn)證
    企業(yè)證件:通過認(rèn)證
    認(rèn)證信息:深圳市鴻怡電子有限公司

    商鋪名稱:深圳市鴻怡電子有限公司

    聯(lián)系人:William(先生)

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    商品詳情
      產(chǎn)品參數(shù)
      封裝/規(guī)格插件
      類型DIP
      間距0.5
      總針腳數(shù)16 1
      圓孔/方孔圓孔
      觸頭鍍層
      工作溫度范圍-45~155℃
      包裝盒裝
      認(rèn)證機(jī)構(gòu)CE
      最小包裝量1
      數(shù)量1
      封裝QFN
      批號以出貨為準(zhǔn)
      品牌HMILU
      型號QFN16-0.5 3*3翻蓋彈片老化座(帶頂針)

      QFN16-0.5-3*3翻蓋測試座
      1.引腳:16 signal Pin 1 GND;
      2.間距:0.5mm
      3.尺寸:3*3mm
      4.Insulation Resistance:1000MΩ At 500V DC
      5.Dielectic Withstanding Voltage:700V AC @ 1Min
      6.Contact Resistance:≤50mΩ@10mA/20mV(initial)
      7.Temperature:-45~155℃
      8.Current Rating:1A Max.







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  • 0571-87774297  
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