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通訊模塊 IC755CKS15CDMEP
工業(yè)電路板維修技巧
不能過(guò)分依賴在線測(cè)試儀
1.功能測(cè)試不能代替參數(shù)測(cè)試
2. 功能測(cè)試僅能測(cè)試到器件的截止區(qū),放大區(qū)和飽和區(qū),但無(wú)法了解此時(shí)的工作頻率的高低和速度的快慢。
3. 對(duì)數(shù)字芯片而言,僅知道有高低電平的輸出變化,但無(wú)法查出它的上升和下降沿的變化速度。
4. 對(duì)于模擬芯片,它處理的是模擬的變化量。其受電路的元器件的分布,解決信號(hào)方案的不同的影響,是錯(cuò)綜復(fù)雜的。就目前的在線測(cè)試技術(shù),要解決模擬芯片在線測(cè)試是不可能的。所以,這項(xiàng)功能測(cè)試的結(jié)果,僅能供參考。
5. 大多數(shù)的在線測(cè)試議,在對(duì)于電路板上的各類芯片進(jìn)行功能測(cè)試后,均會(huì)給出“測(cè)試通過(guò)”或“測(cè)試不通過(guò)”。那么它為什么不給出被測(cè)器件是否有問(wèn)題呢?這就是這類測(cè)試儀的缺撼。因?yàn)樵诰測(cè)試時(shí),所受影響(干擾)的因素太多。要求在測(cè)試前采取不少的措施(如斷開(kāi)晶振,去掉CPU和帶程序的芯片,加隔離中斷信號(hào)等等),這樣做是否均有效,值得研究。至少,目前的測(cè)試結(jié)果有時(shí)不盡人意。
6. 了解在線測(cè)試儀的讀者,均知道有這么一句行話。“在線測(cè)試時(shí)不通過(guò)的芯片不一定是損壞的;測(cè)試通過(guò)的芯片一定是沒(méi)有損壞的。”它的解釋為,如器件受在線影響或抗干擾時(shí),結(jié)果可能不通過(guò),對(duì)此不難理解。那么,是否損壞的芯片在進(jìn)行測(cè)試時(shí),均會(huì)得出“不通過(guò)”呢?回答確實(shí)不能肯定。筆者與同行均遇到過(guò),明明芯片已損壞了(確切地說(shuō)換上這個(gè)芯片板子就不工作了),但測(cè)試結(jié)果是通過(guò)的。權(quán)威解釋為這是測(cè)試儀自身工作原理(后驅(qū)動(dòng)技術(shù))所致。故此我們不能過(guò)分依賴在線測(cè)試儀(盡管各廠家宣傳的很玄)的作用,否則將使維修電路板的工作誤入歧途。
通訊模塊 IC755CKS15CDMEP
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仲量聯(lián)行大中華區(qū)經(jīng)濟(jì)學(xué)家兼研究部總監(jiān)龐溟表示,總的來(lái)說(shuō),在極端高溫天氣、區(qū)域性限電、疫情散發(fā)等多種超預(yù)期、偶然性、外部性因素下,經(jīng)濟(jì)動(dòng)能在一定程度上受到擾動(dòng),前8個(gè)月工業(yè)企業(yè)利潤(rùn)仍在下降,且企業(yè)生產(chǎn)經(jīng)營(yíng)成本繼續(xù)高企,顯示經(jīng)濟(jì)復(fù)蘇仍面臨較多不確定性因素、基礎(chǔ)仍不穩(wěn)固。
數(shù)據(jù)顯示,1~8月份,采礦業(yè)實(shí)現(xiàn)利潤(rùn)總額11246.8億元,同比增長(zhǎng)88.1%;制造業(yè)實(shí)現(xiàn)利潤(rùn)總額40777.2億元,下降13.4%;電力、熱力、燃?xì)饧八a(chǎn)和供應(yīng)業(yè)實(shí)現(xiàn)利潤(rùn)總額3230.1億元,下降4.9%。
| SNAP-AIRTD |
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| SNAP-AITM-2 |
| SNAP-AITM-I |
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