加工定制是
品牌無(wú)錫科隆
型號(hào)chth-4008
溫度范圍-70~150℃
工作室尺寸400*500*500mm
溫度波動(dòng)度±2℃
溫度均勻度±2%
控溫方式均衡控溫
適用范圍電子電器
規(guī)格chth-4008
展開(kāi)
高低溫試驗(yàn)箱chth-4008、恒溫恒濕試驗(yàn)箱，高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱 無(wú)錫科隆試驗(yàn)設(shè)備有限公司
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產(chǎn)品用途：
高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱的作用是提供高溫、低溫、恒溫、恒濕、交變濕熱等試驗(yàn)環(huán)境，并滿足相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)試驗(yàn)箱的要求，主要適用于電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件進(jìn)行耐寒試驗(yàn)、溫濕度變化或劇變條件下的適應(yīng)性試驗(yàn);特別適用于進(jìn)行電子、電工產(chǎn)品的環(huán)境模擬溫濕度試驗(yàn)。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱系統(tǒng)利用一流的環(huán)境模式技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)和制造，產(chǎn)品達(dá)到國(guó)內(nèi)先進(jìn)水平。采用能量調(diào)節(jié)技術(shù)、節(jié)能設(shè)計(jì)、密封性好、高強(qiáng)度、易清洗，符合國(guó)際審美觀的標(biāo)準(zhǔn)化整體式結(jié)構(gòu)箱體;具有操作簡(jiǎn)便、控制系統(tǒng)自動(dòng)化程度高、系統(tǒng)運(yùn)行穩(wěn)定、無(wú)故障運(yùn)行時(shí)間長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn)。
使用條件：
1.環(huán)境溫度：5℃～+32℃
2.周圍不應(yīng)有高濃度粉塵、腐蝕性氣體和易燃易爆氣氛存在。
3.電壓ac 220v±10%;頻率：50hz±5%;
4.滿足設(shè)備裝機(jī)容量要求
5.保證指標(biāo)正常使用環(huán)境溫度應(yīng)≤28℃
型號(hào)
溫濕度范圍
工作室尺寸(cm)
d深×w寬×h高
外型尺寸(cm)
d深×w寬×h高
技術(shù)指標(biāo)
功率（kw)
電源電壓
klth-2008
-20℃～+150℃
20%～98%r.h
40×40×50
95×95×136
+20℃→+150℃
約60min
+20℃→-20℃
約40min
+20℃→-40℃
約60min
+20℃→-70℃
約90min
溫度波動(dòng)度
±0.5℃
濕度偏差：
±3.0%r.h
(濕度＞75%rh).
±5.0%rh
(濕度≤75%rh)
設(shè)定精度：溫度0.1℃，濕度1％rh
指示精度：溫度0.1℃、濕度1％rh
5.0
220
klth -2015
50×50×60
106×106×146
6.0
220
klth -2020
60×50×75
116×106×161
6.5
220
klth -2040
80×60×85
126×116×171
7.0
220
klth -2080
80×100×100
130×155×185
7.5
380
klth -2100
100×100×100
148×155×185
8.0
380
klth -4008
-40℃～+150℃
20%～98%r.h
40×40×50
95×95×136
5.5
220
klth -4015
50×50×60
106×106×146
6.5
220
klth -4020
60×50×75
116×106×161
7.0
220
klth -4040
80×60×85
126×116×171
7.5
220
klth -4080
80×100×100
130×155×185
8.0
380
klth -4100
100×100×100
148×155×185
8.5
380
klth -7008
-70℃～+150℃
20%～98%r.h
40×40×50
95×95×136
6.5
380
klth -7015
50×50×60
106×106×146
8.5
380
klth -7020
60×50×75
116×106×161
9.5
380
klth -7040
80×60×85
126×116×171
10.5
380
klth -7080
80×100×100
130×155×185
11.5
380
klth -7100
100×100×100
148×155×185
12.0
380
滿足標(biāo)準(zhǔn):
1. gb/t 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)a:低溫試驗(yàn)方法
2. gb/t 2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)b:高溫試驗(yàn)方法
3. gb/t 2423.4-2002 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)db交變濕熱試驗(yàn)
4. gb/t 5170-86 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)檢測(cè)方法(溫度試驗(yàn)設(shè)備)
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