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芯片車規(guī)級(jí)AECQ100認(rèn)證測(cè)試;認(rèn)證技術(shù)咨詢、測(cè)試服務(wù)、失效分析
芯片車規(guī)級(jí)AECQ100認(rèn)證測(cè)試;認(rèn)證技術(shù)咨詢、測(cè)試服務(wù)、失效分析
產(chǎn)品價(jià)格:(人民幣)
  • 規(guī)格:完善
  • 發(fā)貨地:本地至全國(guó)
  • 品牌:
  • 最小起訂量:1個(gè)
  • 免費(fèi)會(huì)員
    會(huì)員級(jí)別:試用會(huì)員
    認(rèn)證類型:企業(yè)認(rèn)證
    企業(yè)證件:通過認(rèn)證

    商鋪名稱:廣州廣電計(jì)量檢測(cè)股份有限公司(總部)

    聯(lián)系人:張海鵬(先生)

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    企業(yè)郵箱:3050677168@qq.com

    聯(lián)系地址:廣東省廣州市天河區(qū)黃埔大道西平云路163號(hào)

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    商品詳情
      汽車芯片IC車規(guī)AEC-Q100認(rèn)證
        AEC-Q100認(rèn)證
        AEC-Q100對(duì)IC的可靠性測(cè)試可細(xì)分為加速環(huán)境應(yīng)力可靠性、加速壽命模擬可靠性、封裝可靠性、晶圓制程可靠性、電學(xué)參數(shù)驗(yàn)證、缺陷篩查、包裝完整性試驗(yàn),且需要根據(jù)器件所能承受的溫度等級(jí)選擇測(cè)試條件。
        需要注意的是,第三方難以獨(dú)立完成AEC-Q100的驗(yàn)證,需要晶圓供應(yīng)商、封測(cè)廠配合完成,這更加考驗(yàn)對(duì)認(rèn)證試驗(yàn)的整體把控能力。廣電計(jì)量將根據(jù)客戶的要求,依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)客戶的IC進(jìn)行評(píng)估,出具合理的認(rèn)證方案,從而助力IC的可靠性認(rèn)證。
        如果成功完成根據(jù)本文件各要點(diǎn)需要的測(cè)試結(jié)果,那么將允許供應(yīng)商聲稱他們的零件通過了AEC Q100認(rèn)證。供應(yīng)商可以與客戶協(xié)商,可以在樣品尺寸和條件的認(rèn)證上比文件要求的要放寬些,但是只有完成要求實(shí)現(xiàn)的時(shí)候才能認(rèn)為零件通過了AEC Q100認(rèn)證。
        Tier 1:OEM車用模塊/系統(tǒng)廠,車用電子組件的End-User.
        Tier 2:使用/制造車用電子組件的廠商,車用電子組件的Supplier.
        Tier 3:提供支持與服務(wù)給予電子行業(yè),車用電子的外包商.
        AECQ100認(rèn)證測(cè)試周期:
        3-4個(gè)月,提供全mian的認(rèn)證計(jì)劃、測(cè)試、報(bào)告等服務(wù)。
        AECQ100認(rèn)證測(cè)試地點(diǎn):
        廣電計(jì)量廣州總部、廣電計(jì)量上海試驗(yàn)室。
        測(cè)試元器件失效分析項(xiàng)目:
        ①形貌分析技術(shù):體視顯微鏡、金相顯微鏡、X射線透視、聲學(xué)掃描顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡、聚焦離子束。
        ②成分檢測(cè)技術(shù):X射線能譜EDX、俄歇能譜AES、二次離子質(zhì)譜SIMS、光譜、色譜、質(zhì)譜。
        ③電分析技術(shù):I-V曲線、半導(dǎo)體參數(shù)、LCR參數(shù)、集成電路參數(shù)、頻譜分析、ESD參數(shù)、電子探針、機(jī)械探針、絕緣耐壓、繼電器特性。
        ④開封制樣技術(shù):化學(xué)開封、機(jī)械開封、等離子刻蝕、反應(yīng)離子刻蝕、化學(xué)腐蝕、切片。
        ⑤缺陷定位技術(shù):液晶熱點(diǎn)、紅外熱像、電壓襯度、光發(fā)射顯微像、OBIRCH。
        廣州廣電計(jì)量檢測(cè)股份有限公司(GRGT)失效分析實(shí)驗(yàn)室AEC-Q技術(shù)團(tuán)隊(duì),執(zhí)行過大量的AEC-Q測(cè)試案例,積累了豐富的認(rèn)證試驗(yàn)經(jīng)驗(yàn),可為您提供更專業(yè)、更可靠的AEC-Q認(rèn)證試驗(yàn)服務(wù)。
        芯片(IC)AEC-Q100認(rèn)證測(cè)試業(yè)務(wù)咨詢及技術(shù)交流:
        GRGT李工186-2090+8348;
        zhanghp grgtest.com
        廣電計(jì)量檢測(cè)(GRGT)-芯片測(cè)試能力:
        芯片可靠性驗(yàn)證(RA):
        芯片級(jí)預(yù)處理(PC)&MSL試驗(yàn)、J-STD-020&JESD22-A113;
        高溫存儲(chǔ)試驗(yàn)(HTSL),JESD22-A103;
        溫度循環(huán)試驗(yàn)(TC),JESD22-A104;
        溫濕度試驗(yàn)(TH/THB),JESD22-A101;
        高加速應(yīng)力試驗(yàn)(HTST/HAST),JESD22-A110;
        高溫老化壽命試驗(yàn)(HTOL),JESD22-A108;
        芯片靜電測(cè)試(ESD):
        人體放電模式測(cè)試(HBM),JS001;
        元器件充放電模式測(cè)試(CDM),JS002;
        閂鎖測(cè)試(LU),JESD78;
        芯片IC失效分析(FA):
        光學(xué)檢查(VI/OM);
        掃描電鏡檢查(FIB/SEM)
        微光分析定位(EMMI/InGaAs);
        OBIRCH;
        Micro-probe;
        聚焦離子束微觀分析(FIB);
        彈坑試驗(yàn)(cratering);
        芯片開封(decap);
        芯片去層(delayer);
        晶格缺陷試驗(yàn)(化學(xué)法);
        PN結(jié)染色/碼染色試驗(yàn);
        推拉力測(cè)試(WBP/WBS);
        紅墨水試驗(yàn);
        PCBA切片分析(X-section);
    在線詢盤/留言
  • 0571-87774297  
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