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低溫測(cè)試是環(huán)境可靠性中的試驗(yàn)之一，低溫試驗(yàn)的作用是通過(guò)使用實(shí)驗(yàn)室的低溫設(shè)備模擬氣候環(huán)境中的高溫、低溫，加速反應(yīng)產(chǎn)品在使用環(huán)境中的狀況，對(duì)產(chǎn)品的研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)中預(yù)期的質(zhì)量目標(biāo)，從而對(duì)產(chǎn)品整體進(jìn)行評(píng)估具有重大意義。

低溫測(cè)試介紹：

檢驗(yàn)試件能否在長(zhǎng)期的低溫環(huán)境中儲(chǔ)藏、操縱控制，是確定軍民用設(shè)備在低溫條件下儲(chǔ)存和工作的適應(yīng)性及耐久性。低溫下材料物理化學(xué)性能。

適用產(chǎn)品：

科研研究、醫(yī)遼用品的保存、生物制品、遠(yuǎn)洋制品、電子元件、化工材料等特殊材料。

低溫條件下試件的失效模式：

產(chǎn)品所使用零件、材料在低溫時(shí)可能發(fā)生龜裂、脆化、可動(dòng)部卡死、特性改變現(xiàn)象等等。

低溫試驗(yàn)參考標(biāo)準(zhǔn)：

1.GB/T2423.1-2008

2.IEC 60068-2-1:2007

3.GJB150.4A-2009

4.GJB367.2-87

5.GJB4.3-83

6.GJB4.4-83

7.GJB367A-2001

8.SJ/T 10325-92

9.SJ/T 10325-92

10.GB/T13543-92

11.RTCA/DO-160E

12.GB/T13543-92

13.QC/T 413-2002

14.1591-2009

等等。

試驗(yàn)方法：模擬試驗(yàn)和加速試驗(yàn)。

如常規(guī)的高低溫儲(chǔ)存試驗(yàn)為環(huán)境模擬試驗(yàn)，試驗(yàn)周期較長(zhǎng)。快速溫變?cè)囼?yàn)或HALT試驗(yàn)等則為加速試驗(yàn)，可以明顯縮短環(huán)境可靠性試驗(yàn)周期，快速暴露出產(chǎn)品在使用壽命周期內(nèi)的缺陷。

深圳市賽特檢測(cè)有限公司（簡(jiǎn)稱STT）檢測(cè)項(xiàng)目除了低溫測(cè)試，還有高溫測(cè)試溫度循環(huán)測(cè)試、濕熱測(cè)試、低氣壓測(cè)試、碰撞跌落沖擊試驗(yàn)，防塵防水測(cè)試等等，測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)能滿足GJB、GB、GB/T、IEC、ISO、EN、MIL-STD、SAE、ASTM、ISTA、JIS、IPC、JEDEC、GM、NISSAN等各種國(guó)際、國(guó)內(nèi)環(huán)境及可靠性試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)要求，出具國(guó)際認(rèn)可的檢測(cè)報(bào)告。

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