最近關(guān)注了這個(gè)問(wèn)題，發(fā)現(xiàn)這方面研究還挺多的。但就目前我還是不確定診斷IGBT老化有何意義。至少在國(guó)內(nèi)好像沒(méi)有人關(guān)注這個(gè)問(wèn)題，現(xiàn)場(chǎng)IGBT壞就壞了，停機(jī)就可以了。對(duì)于在線式UPS應(yīng)該更有意義，但UPS有冗余備份，可以解決這個(gè)問(wèn)題。下面就總結(jié)一下我在這方面的理解。
1）通過(guò)檢測(cè)門極電流和門極電壓來(lái)診斷IGBT老化，這好像是目前最實(shí)用的一種方法，但是增加了驅(qū)動(dòng)電路的復(fù)雜度。
2）通過(guò)辨識(shí)電路元件參數(shù)檢測(cè)IGBT老化。我認(rèn)為這種方法沒(méi)有實(shí)際價(jià)值，主要是元器件參數(shù)本身就是隨環(huán)境變化的，并且變化不小，哪能辨識(shí)準(zhǔn)，并且實(shí)現(xiàn)較為復(fù)雜。
3）通過(guò)檢測(cè)PWM的高頻信號(hào)。當(dāng)門極電阻較小時(shí)，PWM上升沿有一個(gè)振蕩衰減過(guò)程，這個(gè)振蕩過(guò)程隨著IGBT老化減弱。我認(rèn)為這種方法仍然沒(méi)有實(shí)際價(jià)值，因?yàn)檫@種方法需要準(zhǔn)確的分析電路的寄生參數(shù)，而寄生參數(shù)和太多因素有相關(guān)性。
4）通過(guò)測(cè)量IGBT導(dǎo)通壓降或?qū)娮铏z測(cè)老化。這種方法是最直觀的，因?yàn)镮GBT老化主要體現(xiàn)在IGBT導(dǎo)通電阻增加。但我同樣認(rèn)為這種方法不可行，因?yàn)檫@需要測(cè)量精度非常高。
5）通過(guò)提取電路的的控制特征參數(shù)檢測(cè)老化。這個(gè)特征參數(shù)可以是電路的模擬量，或者控制量，或者這些量的關(guān)系式，在通過(guò)概率統(tǒng)計(jì)的方法對(duì)該特征參數(shù)進(jìn)行分析。個(gè)人認(rèn)為這種方法有一定可行性。
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