如果未正確定義這些屬性，則結果可能會受到很大影響，但是，在連接器安裝邊緣有效邊界條件并不總是那么容易，連接器安裝邊緣的邊界條件取決于連接器長度/邊緣長度比，連接器引線的材料類型和幾何形狀以及連接器在盒和印刷儀器維修上的安裝類型。
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顯微硬度測試的常見問題
1、準確性 – 儀器以線性方式讀取公認硬度標準（經過認證的試塊）的能力，以及將該準確性轉移到測試樣本上的能力。
2、重復性- 結果是否可以使用公認的硬度標準重復。
3、相關性——兩臺經過正確校準的機器或兩個操作員能否得出相同或相似的結果（不要與使用同一臺機器和同一操作員的重復性相混淆。
123案例研究由粉塵引起的導電路徑形成該組件顯示在現場兩個相鄰引線之間的SIR略低于預期，在跨越兩個相鄰引線的基板上發現了微粒污染，如56所示，沒有觀察到金屬遷移，該組件具有帶有Sn/Pb涂層的銅引線框。 如果您只烤面包的一側，而不烤另一側，您會發現面包會變形，通過從PCB板的一側蝕刻所有的銅，當另一側的銅冷卻時，往往會使面板翹曲，翹曲導致生產中的幾個問題，限制任何多層PCB板中的翹曲都需要謹慎，以確保基礎層和預浸料層的衡堆疊。
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1、機器。
維氏顯微硬度測試儀通過使用自重產生力來進行測量。這些輕負載裝置 (10-2,000 gf) 將自重直接堆疊在壓頭頂部。雖然這消除了放大誤差以及其他誤差，但這可能會導致重復性問題。在大多數情況下，顯微硬度計使用兩種速度施加載荷——“快”速度使壓頭靠近測試件，“慢”速度接觸工件并施加載荷。壓頭的“行程”通常用測量裝置設定。總而言之，一件樂器給人留下印象大約需要 30 秒。此時，在進行深度測量或只是試圖在特定點上準確放置壓痕時，壓頭與物鏡的對齊至關重要。如果這部分弄錯了，即使硬度值不受影響，但距樣品邊緣的距離也可能是錯誤的，終導致測量錯誤。
該振動曲線存儲飛機的振動，計算加速度功率譜密度和加速度的均方根值，還開發了相同PCB組件配置的有限元模型，并在ANSYS中進行了模態和頻譜分析，將有限元結果與分析解決方案的結果進行比較，并對結果進行討論。 線性對數律的一個重要方面是，使用較短的暴露測試，可以長期長期預測腐蝕損傷，在Pourbaix的意見[86]中，外推可能有效長達20到30年，在這樣的長期測試中，環境的變化可能會更嚴重地影響腐蝕速率，46第4章:阻抗譜在本研究中。
2、運營商。
顯微硬度測試很大程度上受操作者的能力和技能的影響。正確的聚焦是獲得準確結果的關鍵因素。模糊圖像和結果很容易被誤讀或誤解。在許多情況下，操作員有時會急于進行測試并取出零件。必須小心確保正確的結果。在許多情況下，機器的自動對焦可以幫助消除一些由乏味、費力和重復性任務帶來的感知錯誤。
手動記錄和轉換結果可能是操作員出錯的另一個原因。疲勞的眼睛很容易將 99.3 視為 9.93。 自動給出轉換和結果的數字顯微硬度測試儀可以幫助消除這個問題。此外，相機幾乎可以連接到任何顯微硬度測試儀上，以幫助找到印模末端。
用于HAST測試的預處理的后一步是5個無鉛回流焊循環，峰值溫度為+260oC，對于實際的HAST測試，則應用了表5中給出的參數集，表用于HAST測試的參數集參數級別溫度130oC濕度85%rh偏置3.5VDC測試持續時間120hrs所使用的測試試樣提供了通孔測試的結構(每個試樣1個結構)。 但仍被認為是考慮到樣本是在開發項目中構，，建的，而沒有任何流程優化步驟，因此可以接受，表薄板測試車的回流測試結果測試車幸存的回流循環次數均值回流測試后的橫截面，在TV3發生分層圖TV3熱循環結果上的分層區域的詳細視圖如上所述。
3、環境問題。
由于顯微硬度測試中使用輕負載，振動可能會影響負載精度。壓頭或試樣的振動會導致壓頭更深地進入零件，從而產生更柔軟的結果。顯微硬度計應始終放置在專用、水平、堅固、獨立的桌子上。確保您的桌子沒有靠墻或相鄰的桌子。
顯微硬度計硬度計機器具有高倍光學鏡片。如果在測試儀附近進行切割、研磨或拋光，鏡頭上可能會沾上污垢，從而導致結果不準確。
取而代之的是，橫截面顯示了一種混合破壞模式，在預浸料坯層中發生了內聚破壞，并且在界面處發生了粘結破壞(圖18)，為了確定當前樣品分層的根本原因，還需要做更多的工作，但是盡管回流工藝中TV2和TV3的性能沒有達到批量生產板所要求的水。 FR4環氧玻璃層壓板的熱分析顯示CTE在玻璃化轉變溫度(Tg)之前是恒定的，在玻璃化轉變溫度下，CTE會增加8到10，多層PWB的典型CTE在Tg之前約為30ppm/C，然后在Tg之后增加到250至300ppm/C。 在無損介質中:Zo=L/C，通過介質1和2之間的間斷傳播的電信號被反射系數反射為:R=(Z1-Z2)/(Z1+Z2)其中Z1和Z2是兩種介質中的特征阻抗，當反射信號的另一端達到不連續點時，它將再次被反射。
但是，在大多數情況下，這些部分都可以正常工作。也可以從這些來源獲得其他常用組件，包括反激式變壓器，皮帶和其他橡膠部件以及RF調制器，但它們的使用頻率往往會降低，并且質量可能會有更大的變化。還有其他一些類似的公司，例如SK（湯姆森消費電子產品的一部分），但現在NTE似乎在這些通用替代半導體和其他電子元件的行業中占據主導地位。惠普到行業標準半導體交叉參考（摘自：WalterShawlee2（walter2@sphere.bc.ca）。）Sphere的二手電子測試設備將幫助解碼所有這些奇數的1820-xxx數字！此外。HP和Tek還可以在線維修零件和設備，以及有用的常見問題解答和指向各種測試設備站點的鏈接。
并連接至振動篩控制器的驅動通道的輸入，對于響應測量，使用了一個微型單軸(0.7克)ICP型加速度計(PCB型號352A24)(圖4.2)，43微型加速度計圖4.用于響應測量的微型輕型響應加速度計，獲得了每個印刷儀器維修(裝有鉭電容器的PCB。 產生能夠在兩層或更多層之間傳送電流的可靠導電結構所涉及的關鍵處理步驟包括:激光燒蝕，化學清潔，[去污"(化學去除多余的樹脂)，微蝕刻，化學鍍銅或直接金屬化，電解鍍銅以及可能的填充孔，微孔特征的小幾何形狀帶來了許多復雜的制造挑戰。 因此該水被設置為振動篩的限，在CirVibe的峰值響應位置(表4.1)再次定義了加速度計，以便在這些峰值加速度計位置輸入測得的峰值透射率，基于透射率測試獲得的數據，在這些加速度計位置定義了共振透射率(表5.6)。 是MehmetSinanHasanolu和EthemBozkurt的支持，作者還想對她的朋友idem，Filiz，Nevra，zge，Serdar和flke表示感謝，感謝他們在整個研究過程中的支持，作者要感謝TolgaTeken對研究的信任。
這通常使計算機和其他制造商的所謂接地導體不再必要。）引入了可靠性浴缸曲線的概念。這是一組產品生命周期的圖形表示，包括三個關鍵時期。部分檢查了曲線的階段嬰兒死亡率，并討論了與老化有關的問題，后者是在產品使用壽命內減少此類故障發生的一種常見做法。第二部分（此處介紹）將介紹浴缸曲線的中段和末段：正常壽命（或“有用壽命”）和壽命終止。正常使用壽命的特征是較低的，相對恒定的故障率，并且故障被認為是“應力超過強度”的隨機情況。可靠性浴盆曲線回顧如部分中更詳細描述的，下圖1中顯示的浴盆曲線沒有描述單個項目的失敗率。取而代之的是，曲線描述了一段時間內整個產品群體的相對失效率。一些個體單位會相對較早地失效（嬰兒死亡率失靈）。
丹麥Struers司特爾硬度計不顯示維修五小時內修復搞定線對地，零線對地）足夠的插頭間距（如果需要，足夠寬以插入電源）該項目將以南安普頓大學以前的研究為基礎，為該項目提供一個博士學位職位，目的是為電子設備構建簡單但的FE（有限元）建模軟件。該軟件將能夠預測PCB的響應，并可以隨后通過適當的數據庫來預測故障。這項工作將涉及：創建和驗證電子設備的有限元模型，建立典型設備機械性能的數據庫，創建用戶友好的軟件以自動創建和求解有限元模型，對結構進行實驗性動態測試以及制造組件樣本并將其測試為失敗。其他工作可能包括對新型顆粒阻尼系統的實驗。這項工作將與在端環境中創建堅固的電子設備有關：航天器發射，發動機罩下的計算機系統，級電子設備，電子設備，堅固的消費電子設備等。 kjbaeedfwerfws