日本大塚OTSUKA 450mm晶片檢查裝置SF-450M
Otsuka大塚電子型號大全:
環形電位、粒徑、分子量測量系統ELSZ-2000ZS
單元電位測量系統ELSZ-2000Z
動態光散射亮度計DLS-8000series
濃厚的粒徑分析儀FPAR-1000
纖維光學動態光散射亮度計FDLS-3000
紅寶石自動取樣的濃厚的粒徑分析儀FPAR-1000AS
動態光散射亮度計DLS-6500series
粒徑分子量測量系統ELSZ-2000S
光散亂光度計SLS-6500HL
高感度示差屈折計DRM-3000
可拉利電氣泳動系統Agilent 7100
多信道分光器MCPD-9800
多信道分光器MCPD-6800
高感度分光放射輝度計HS-1000
反射分光膜厚計FE-3000
膜厚顯示器FE-300
嵌入式膜厚顯示器FE-300
膜厚檢測應用多信道分光器MCPD series
顯微鏡光譜的厚度計OPTM series
光譜儀FE-5000/5000S
光譜干擾式晶片膜厚計SF-3
450mm晶片檢查裝置SF-450M
微晶片厚度檢查裝置SF-3000M
全光束測定系統HM/FM series
發光熒光測定用途多信道光譜儀MCPD series
分光配光測定裝置GP series
高速螺栓測量系統GP-7 series
發光熒光測定用途多信道光譜儀
壽命檢查裝置IESNA LM-80
量子效率測試系統QE-2000/2100
單線熒光薄膜檢查系統DF-1000
高靈敏度NIR量子效率測量系統QE-5000
單粒子熒光診斷系統NIMS
量子系統ELSZ-PT
高速LED光學特性監控裝置LE series
濾色器光譜特性測量裝置LCF series
彩色測量用多信道分光器MCPD series
小區間隙檢查裝置RETS series
LCD評估裝置(面板模塊檢查)LCD series
黑色亮度的調光變化測定裝置GC-1
動畫特性測定裝置MPRT-2000
動畫解像度評估裝置MR-2000
透射率、接收、外光譜測量儀MCPD series
反射率測定用途多信道分光器MCPD series
膜厚度測定系統FE-3700/5700
快速反應檢測裝置RE-200
相位差膠卷光學材料檢查裝置RETS-100
