日本堀場HORIBA 光掩模(Reticle/Mask)顆粒探測系統(tǒng)PR-PD5
多功能性及緊湊型增強的低成本檢測
繼續(xù)了PD系列的高效性,因其緊湊的設計,PR-PD5具有優(yōu)秀的成本經(jīng)濟性表現(xiàn),同時該型號也可以集成于Reticle Stocker/Stepper和清洗機等設備中
非常低的維護及操作成本由于應用了高經(jīng)濟性的He-Ne激光和簡化了的檢測進給單元與平臺單元,維護和操作成本得以降低
免于誤檢的有效功能PR-PD5具有針對粗糙表面的Pattern的極化區(qū)分功能,以及對應良好表面的Pattern的低通區(qū)分功能。這兩種方式可有效避免在OPC等pattern下的誤檢。
差異化應用的多功能性對應在Pattern面上的顆粒物,檢測精度可達到0.5μm,PR-PD5不僅可檢測Reticle和Mask上的顆粒物,同時也能以高輸出率檢測在Glass和Pellicle面上的顆粒物。
尖端,復合功能性的軟件使用Horiba本社的復合功能軟件,集合了Pattern Masking,外來顆粒物標識和數(shù)據(jù)庫管理等功能