日本堀場HORIBA GD-Profiler HR輝光放電光譜儀
概要
輝光光譜儀：具有性能指標。 HORIBA Jobin Yvon GD-Profiler? HR 對于解決分析問題，即使是最復雜的基體，提供了很好的分別率和元素數量。60種元素（包括氣體元素）可以同時分析。
特征
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RF射頻發生器- 標準配置，符合E級標準，穩定性高，濺射束斑極為平坦，等離子體穩定時間極短，表面信息無任何失真。
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脈沖工作模式既可分析常見的涂、鍍層和薄膜，也可以很好的分析熱傳導性能差和熱易碎的涂、鍍層和薄膜。
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多道(同時)型光學系統可全譜覆蓋，光譜范圍：110nm至800nm，包含遠紫外，可分析C, H, O, N, Cl
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HORIBA Jobin Yvon 的原版離子刻蝕全息光柵保證了儀器有光通量，因而有很高的光效率和靈敏度
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專利HDD® 檢測器可進行快速而高靈敏的檢測，動態范圍達到10個量級
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寬大的樣品室方便各類樣品的加載
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功能強大的QUANTUMT XP軟件可以多種格式靈活方便的輸出檢測報告
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激光指點器(CenterLite laser pointer，專利申請中)可用于精確加載樣品
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HORIBA Jobin Yvon獨有的單色儀(選配件)可極大的提高儀器的靈活性，可同時測定N+1個元素
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GD-Profiler HR 1米焦距，分辨率高達14pm，可同時分析60個元素.
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GD-Profiler HR 可以附加選配1米焦距單色儀，分辨率達9pm.
