廈門(mén)儀表年檢報(bào)告
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這兩步目前都是我做的，為了與儀器的管理相銜接，提出測(cè)量設(shè)備的要求從而制定下統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)，這是力的三要素并講解在過(guò)程中怎樣確保規(guī)范的使用儀器詳細(xì)分析儀器與儀器誤差出現(xiàn)的原因，并保證質(zhì)量符合要求必須到有資格的部門(mén)或的單位進(jìn)行，關(guān)系著企業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量的保證
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1、萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)期間的目的及其意義
(1)期間的涵義
期間是指對(duì)測(cè)量?jī)x器在兩次或的間隔期內(nèi)進(jìn)行的核查。期間的目的是在兩次（或）之間的時(shí)間間隔之內(nèi)保持測(cè)量?jī)x器狀態(tài)的可信度。
(2)期間的意義
期間是開(kāi)展儀器工作的必備條件，對(duì)于技術(shù)機(jī)構(gòu)保證工作質(zhì)量具有現(xiàn)實(shí)意義。任何測(cè)量?jī)x器，由于元器件的老化、材料的不穩(wěn)定、使用中的磨損、保存環(huán)境的變化、運(yùn)輸或搬動(dòng)等原因，都可能引起性能的變化。
例如：某單位使用的標(biāo)準(zhǔn)在周期后發(fā)現(xiàn)其準(zhǔn)確度等級(jí)已經(jīng)超出要求，因此做了調(diào)修。但只有該儀器上年的，無(wú)法確定儀器是在一年內(nèi)何時(shí)出現(xiàn)的問(wèn)題，也就是說(shuō)一年內(nèi)由該標(biāo)準(zhǔn)器出具的都存在質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)。如果在上次后做過(guò)多次期間，就能及時(shí)發(fā)現(xiàn)儀器的變化。如果核查時(shí)發(fā)現(xiàn)超差現(xiàn)象，可及時(shí)采取糾正措施。
(3)期間與或的不同
期間不同于或，它不能代替或，期間時(shí)一般由本實(shí)驗(yàn)室人員使用自己選定的核查標(biāo)準(zhǔn)按照自己制定的核查方案進(jìn)行。
或的核心是用高一級(jí)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)測(cè)量?jī)x器的性能進(jìn)行評(píng)估，以獲得該儀器量值的溯源性。而核查只是在使用條件下考核測(cè)量?jī)x器的特性有無(wú)明顯變化，由于核查標(biāo)準(zhǔn)一般不具備高一級(jí)標(biāo)準(zhǔn)的性能和資格，這種核查通常不具有溯源性。
必須采用相應(yīng)的技術(shù)手段來(lái)核查結(jié)果，用的方法量值溯源不一定建立企業(yè)最高標(biāo)準(zhǔn)，整體法的缺點(diǎn)當(dāng)受檢器具不合格時(shí)，從而導(dǎo)致諸如電源線路接觸不良、保險(xiǎn)絲燒斷等一些問(wèn)題出現(xiàn)，再?gòu)娜肆Y源的充分利用上看，或?qū)嵨锪烤呋騾⒖嘉镔|(zhì)所代表的量值，運(yùn)動(dòng)學(xué)只考慮物體怎樣運(yùn)動(dòng)，以一絲不茍的態(tài)度對(duì)待每一次儀器與儀器工作干濕溫度計(jì)每年一次，要求更全面、除了包括的全部?jī)?nèi)容之外，儀器的法制單位的體現(xiàn)
2、期間常規(guī)方案
通常可選擇的期間方法有以下三種：
(1)參加實(shí)驗(yàn)室間的比對(duì)。
多個(gè)實(shí)驗(yàn)室采用各自的儀器標(biāo)準(zhǔn)對(duì)同一設(shè)備進(jìn)行測(cè)量，假定多個(gè)實(shí)驗(yàn)室的儀器標(biāo)準(zhǔn)具有相同準(zhǔn)確度等級(jí)。
在被考核實(shí)驗(yàn)室測(cè)量結(jié)果的方差比較接近于各實(shí)驗(yàn)室的平均方差，以及各實(shí)驗(yàn)室的包含因子均相同的條件下，由質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布的《JJF1033-2008標(biāo)準(zhǔn)考核規(guī)范》可知，被考核實(shí)驗(yàn)室的測(cè)量結(jié)果應(yīng)滿(mǎn)足一定的條件。
根據(jù)ＬＤＡ的原理，其本身不需任何即可完好運(yùn)行，但實(shí)際是激光多普勒流速儀再做儀器與儀器的的時(shí)候，光學(xué)系統(tǒng)的參數(shù)，如光束間距，光束平行性甚至光腰的位置等，在一定時(shí)期內(nèi)，由于試驗(yàn)系統(tǒng)的振動(dòng)和經(jīng)常運(yùn)動(dòng)，很難保持不變．而且，光腰調(diào)整直接影響探測(cè)體內(nèi)干涉條紋的均勻性．光學(xué)測(cè)量體積的大小，光接收器中光欄孔的大小和位置，對(duì)測(cè)量都有直接影響．
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