晶片晶圓表面缺陷檢測燈 黃綠光半導體材料表面檢查燈 晶片顆粒缺陷儀 wafer表面檢測燈
晶片晶圓表面缺陷檢測燈是一款黃綠光半導體材料表面檢查燈，可用于檢測晶片、晶圓表面缺陷，利用適合的LED燈源，通過光學鏡片折射出特殊波長的光源，照在晶片、晶圓表面折射出光路，從而發現表面的缺陷瑕疵。取代傳統的照明設備和光學系統機臺，直接通過照明光線和肉眼，觀測出晶片、晶圓表面表面的瑕疵，極大的節省了一般工廠的采購成本。
黃綠光半導體材料表面檢查燈采用人眼最敏感510-590NM之間波長光，來做最簡單與明確的判別，可精確檢查到1um以下的刮痕或微粒子，并且具有綠光和黃光2種顏色的復合光，幾乎可檢測出所有塵埃，大大降低產品不良率。使用壽命為2萬小時以上。光源強度可達90000LX，最小可以檢測1μ的表面臟污，比傳統的檢查燈，效用增強10倍.
晶片晶圓表面缺陷檢測燈
晶片晶圓表面缺陷檢測燈規格參數：
型號：桌面式晶圓檢查燈，晶片顆粒缺陷儀，wafer表面檢測燈
光 源：高亮度的6000K LED加濾光片和光學鏡片； LED平均壽命是30000小時
照度：距離45cm → 48000lx；距離30cm → 68000 lx（我們掌握了核心技術，我們可以提供不同照度的平行燈，它們可滿足不同客戶的要求）
照射面積： 18cm直徑的光圈 在40cm的距離
調光方式： 無極調光：從0% ~ 100%；
消耗功率：20 W
電源：采用110-220V電源供電（交流供電），可以24小時持續無間斷工作。
平行光強的穩定性： > 90 ％