Wafer晶圓表面顆粒缺陷檢查燈 黃綠光表面檢查燈 高照度晶圓LED檢查燈
wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈是一款黃綠光表面檢查燈（或者是白光），檢測燈的原理利用適合的LED燈源，通過光學鏡片折射出特殊波長的光源，照在工件表面折射出光路，使得操作員肉眼可識別出工件表面的灰塵、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵點，取代傳統的照明設備和光學系統機臺，直接通過照明光線和肉眼，觀測出一般玻璃表面、部件表面的瑕疵，極大的節省了一般工廠的采購成本。 黃綠光檢查燈采用人眼最敏感510-590NM之間波長光，來做最簡單與明確的判別，可精確檢查到1um以下的刮痕或微粒子，并且具有綠光和黃光2種顏色的復合光，幾乎可檢測出所有塵埃，大大降低產品不良率。使用壽命為2萬小時以上。光源強度可達15萬LX，最小可以檢測1μ的表面臟污，比傳統的檢查燈，效用增強10倍.。
wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈參數規格
高照度晶圓LED檢查燈；晶圓顆粒缺陷檢查燈；Wafer表面檢查燈
光 源：20W 高亮度進口LED加定制的光學鏡片； LED平均壽命是30000小時
照度：距離40cm → 9萬lx；距離30cm → 15萬 lx（我們掌握了核心技術，我們可以提供不同照度的平行燈，它們可滿足不同客戶的要求）
照射面積： 8-16cm直徑的光圈 在40cm的距離（通過調焦距調光）
調光方式： 無極調光：從0% ~ 100%；消耗功率：20 W
電源：采用110-220V電源供電（交流供電），可以24小時持續無間斷工作。
平行光強的穩定性： > 90 ％