日本電測densoku便攜式薄膜膜厚計QNIx系列介紹 便攜式膜厚儀，可輕松提高麻煩的膜厚測量的生產效率 QNIx系列產品允許您僅使用超輕型緊湊型儀器和探頭即可測量薄膜厚度，而無需攜帶笨重的薄膜厚度計。 無需進行膜校準即可進行精確的膜厚度測量 出廠時輸入了16點校準數據。這樣就無需進行麻煩的薄膜打樣工作，并且可以進行精確的薄膜厚度測量。 膜厚測量數據傳輸的新技術 在傳統的測量儀器中，測量儀器通過電纜連接到個人計算機以傳輸測量數據。QNIx系列使用“無線加密gou”，只需將其插入USB端口即可進行傳輸。您可以更快，更輕松地瀏覽測量數據。 超輕便的無線測量儀 探頭測得的數據被無線發送到主機。它降低了被電纜卡住，像傳統產品一樣妨礙或導致跌落事故的風險。此外，該探頭重30克，非常輕巧，因此您無需攜帶笨重的儀器。 一種不易折斷且不會在測量對象上留下痕跡的探針。 QNIx系列探頭被增強塑料包圍，耐用性提高了30％。即使發生極少數的故障，拆卸和維修也很容易，因此縮短了維修時間。此外，它配備有紅寶石芯片，可以安全地進行測量，而不會損壞要測量的對象（樣品）。 便攜式薄膜測厚儀的型號代碼指南 [F]黑色金屬材料的非磁性膜厚度測量 [N]有色金屬材料的非導電膜厚度測量 [FN]用一根探針測量黑色金屬和有色金屬材料上的膜厚 [T]微型探針 [M]測量數據存儲功能，數據傳輸到PC 
無線測量無需電纜。它有助于將測量數據傳輸到PC，也有助于防止測量過程中掉落事故。QNIx系列功能
QNIx系列比較規格表
QNIx 8500 QNIx
4500/4200QNIx 7500 QNIx Carcheck系統 QNIx方便 可測量的電影 [F]黑色金屬上的非磁性涂層
測量范圍0至2,000μm
（可選：5,000μm）0至3,000μm 0至2,000μm
（可選：5,000μm）0至5,000μm 0?500微米 zui高
分辨率0.1μm，1μm
[M] 0.01μm1微米 0.1微米 0.1微米，1微米 5微米 配置格式 0點校正
用戶校準：1
[M] 1000點校正 0點校正 沒有校準功能 沒有校準功能 準確度 ±（1微米+ 2％）
±3.5％
（2毫米或更多）
[T] ±
（0.3微米+ 2％）±（2μm+ 3％） ±（1微米+ 3％） ±（1μm+ 2％）
±3.5％
（2mm以上）±（10微米+ 5％） 測量速度 1,500ms
（大約40次/分鐘）
[T] 920ms
（大約65次/分鐘）
[R] 1,600ms
（大約37次/分鐘）600ms
（約70次/分鐘）1,300ms
（約46次/分鐘）1,500ms
（約40次/分鐘）600ms
（約100次/分鐘）