日本細粒粉體異物検査裝置 FAVIS-3000 異物が細粒の影に隠れることがないように、ドラム上で一層化した細粒を、高精度に異物を検出?吸引排除し、良品細粒を排出する構造にしています。 検査が確実に行われているか動作狀況を常時モニタリングしています。 細粒に隠れて検出し難い異物をラインセンサカメラにて撮像可能とするため、フィーダにより定量を送り出し、更にドラム上に流すことにより細粒を一層化して、異物が細粒と重なり合わずに露出させて搬送しています。撮像した畫像は、専用畫像処理回路により高精度?高速処理して、異物を検出します。 本裝置の搬送部（ホッパー、フィーダのトラフ、ドラム、シュート）、及びその周辺（排出機構、排出ホース、その他カバー類等）は、簡単に取り外し、洗浄できる構造となっています。 裝置動作のアラームモニタリングはもちろん、検出異物の畫像、品名、ロットNo、稼動時間、異物検出數といった［生産管理データ］や、サンプル測定結果、光量データといった［モニタリングデータ］を表示及び全數データ保存をします。更に不良畫像のファイリングもおこないます。 ① 眉毛 ② 有色異物 ③ 100µm黒色異物 検査システムと動作
検査システム內部
ドラム搬送方法
搬送部は、部品を簡単に取外して洗浄が行える構造となっています。ドラム方式採用による安定した検出
※特許出願番號）特願平10-285436［粉粒體中の異物検査方法および検査裝置］簡単洗浄構造
豊富なデータモニタリング
本システムで検出した異物サンプル例 ＜參考＞
