德科技(KeysightTechnologiesInc.)日前宣布旗下的KeysightB1505A功率元件分析儀/曲線追蹤儀推出多項新的增強特性，使其成為目前唯一可量測晶圓上(on-wafer)和封裝元件的所有關鍵參數(shù)的解決方案，以加速推動現(xiàn)代半導體功率元件的開發(fā)。 在飛速成長的電子產業(yè)中，可靠、高效率的半導體功率元件扮演著極重要的角色。而高效率的元件開發(fā)有賴于對晶圓上和封裝元件的各種新特性進行徹底評估，并與傳統(tǒng)元件特性加以比較。這些特性包括閘極電荷(Qg)、元件電容器(輸入電容器、輸出電容器和逆向轉換電容器)，以及閘極電阻(Rg)。因此工程師必須在實際運作狀況下，分析元件之低溫或高溫特性。然而，直到現(xiàn)在市面上都尚未出現(xiàn)具備所有這些功能的單一解決方案。 憑藉其新的增強特性，KeysightB1505A可提供執(zhí)行晶圓上和封裝元件量測與特性分析所需的完整功能。B1505A的自動化熱溫測試功能可與熱管理設備同步運作，以支援-50℃至+250℃的作業(yè)溫度范圍。新的量測功能則針對高壓偏壓元件提供自動化電容器和Rg量測。如此一來，工程師可透過低壓和高壓設定來執(zhí)行Qg曲線量測，以便對IGBT模組等高功率元件進行準確的特性分析。 另外，B1505A新的增強特性采用靈活的可升級硬體架構，可滿足元件或制程工程師現(xiàn)在和未來的所有量測需求。舉例而言，B1505A可支援最多5個高壓訊號源監(jiān)視裝置的配置，方便工程師密集執(zhí)行可靠性測試。 在加入新的增強特性后，B1505A成了元件或制程工程師、功率元件制造QA工程師，以及半導體功率元件研發(fā)人員的得力助手，以協(xié)助他們加速開發(fā)可靠的功率元件(如IGBT和功率MOSFET)，或是功率元件使用的新型寬能隙(wideband-gap)材料，例如碳化矽或氮化鎵。工程師還可使用B1505A進行進料元件檢查和故障分析。 臺灣是德科技總經理張志銘表示：“可靠性和能源轉換效率已成了現(xiàn)代功率元件的首要特性。但開發(fā)這些元件時，工程師必須能夠在各種不同的作業(yè)條件下，全面量測多元的特性，并充分評估閘極電荷、閘極電阻和元件電容器等參數(shù)。B1505A新增的各項特性，使其具備輕松準確地執(zhí)行前述量測所需的功能，并且為功率元件測試樹立了新標準。” KeysightB1505A是基于MicrosoftWindows7作業(yè)系統(tǒng)的單機式功率元件評估解決方案，具有從sub-pA到10kV/1500A的寬廣量測范圍，可實現(xiàn)精準的uohm導通電阻量測，而10us的快速脈沖量測功能則支援完整的功率元件特性分析。憑藉其可擴充的架構、易于使用的軟體環(huán)境、下一代曲線追蹤儀，以及自動化測試和分析功能，B1505A提供無與倫比的卓越效能和易用性，是功率元件特性分析不可或缺的配備。
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