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宜興科亞KEYA馬達調速器維修概述 建議使用45度角，因為它們對走線的寬度影響較小，狹窄的角度會導致電磁輻射和銅隨著時間的推移而遷移，應避免使用，$$$$-間距和跡線:當電流和間距不是問題時，我們建議根據銅的厚度，間距或跡線等于或大于:1/2盎司銅板為0.007英寸/0.007英寸1盎司銅板0.008英寸/0.008英寸2盎司銅板的0。。請記住，直流調速器是一種的電子設備。與跨線路運行的設備不同，它的設計目的是在電機或系統崩潰之前為負載提供功率。直流調速器將對系統條件的波動做出響應，并最終根據系統的哪個部分出現故障而停止故障指示。

在RH范圍內每增加10％RH，兩個電極之間的測試板阻抗便開始以數量級衰減。在RH測試中，與其他組相比，對照組樣品的阻抗值更高，大于107歐姆，顯示小于0。在經過測試的RH范圍內，阻抗下降5十年。對于沉積有不同粉塵樣品的測試板，臨界過渡范圍會有所不同。故障閾值選擇為106歐姆。如果測試板的阻抗下降到等于或低于此閾值，則認為是由于阻抗損失導致的故障。因此，在C下相對濕度為85％，60％，82％和90％的測試條件下，分別沉積有粉塵3和4的測試板經歷了阻抗故障的損失。當數據在故障閾值上沒有的點匹配時，將使用線性插值。較低的RH值表示灰塵更容易造成阻抗損失。根據RH值評估灰塵對阻抗損失的影響，在RH值下。

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1.用良好的目視檢查系統。查找設備附近或下方的流水或滴水、高濕度、極端溫度過高、過多的污垢或污染碎片以及腐蝕劑。
這是一個很好的經驗法則：如果由于物理環境的原因您不會將電視放在直流調速器附近，那么直流調速器可能會出現問題。如果直流調速器沒有密封外殼以應對惡劣的環境條件，則必須小心保護直流調速器組件。

2.清潔直流調速器的污垢、灰塵和腐蝕。根據環境的不同，污染物可能存在重大問題。直流調速器應該相對干凈。不要讓直流調速器的散熱器上堆積大量污垢。這可能會阻止驅動半導體充分冷卻，并可能損壞冷卻風扇并導致過熱問題。

3.檢查所有接線連接是否緊密。直流調速器與輸入電源和電機的接線松動是直流調速器故障的主要原因。由于直流調速器日復一日地運行，溫度升高和隨后的冷卻的持續循環可能會導致連接隨著時間的推移而松動。根據設備制造商的不同，所使用的電線可能會高度絞合以提高靈活性。這種類型的電線可能難以保持緊繃。連接松動會導致過流跳閘、損壞 IGBT、導致輸入整流器故障以及燒毀接觸器和開關上的端子。

表6.8中顯示了一些典型數字，但在特定情況下應使用制造商的數據。檢查獲得制造商數據的測量條件是否與用戶感興趣的條件相似也很重要。間歇性或周期性變化功耗的有效熱阻需要特殊的計算方法[6.18]。大部分熱量從芯片流到引線，再流到直流調速器或基板。此外，熱量通過對流在直流調速器中橫向流動，并流入周圍的空氣中。因此，直流調速器的導熱系數是一個重要參數。直流調速器中常用的聚合物材料的導熱系數較低，=層i的厚度。ttot=總直流調速器厚度。如果僅第i層表面的一小部分bi被導體覆蓋，則：ki=biKi其中：Ki=導體材料（銅）的熱導率。bi=被導體覆蓋的直流調速器表面的分數，“填充分數”。電子元器件，包裝和生產由于銅的導熱系數比聚合物的導熱系數高得多。

沒有過關，導電元件之間通過空氣的間距是間隙，毫無疑問，工程師和設計軟件開發人員將繼續使用通用術語[間隙規則"來所有間距，因此設計人員需要了解爬電距離和間隙之間的差異，并始終確保它們都具有這兩組規則當設計被認為是高電壓時。。 以至于在沖擊和振動測試期間將其視為潛在的故障部位，基于計算機模型的動態模態和瞬態撓度形狀，很明顯如何修改設計以使其更堅固，電路板2-300x120通常，需要額外的支持來防止組件的[傾斜"運動，在對改性板進行分析時。。 一個可怕的設計，這是獲得原型直流調速器組件的四個基本選項，直流調速器原型制作服務直流調速器原型組裝服務的工作方式主要有四種:視覺模型概念工作原型功能原型1.視覺模型原型一個可視化模型的原型就是一切的大腦轉儲您的工程團隊希望看到你的項目了。。 bga組件-印刷電路板概念直流調速器有關更多信息，您可以訪問Wikipedia上的出色文章，表面貼裝技術-維基百科護墊焊盤是印刷電路板上的一小層銅表面，可將元件焊接到板上，您可以將焊盤看作是一塊銅片，該元件的引腳通過機械方式支撐和焊接。。

宜興科亞KEYA馬達調速器維修概述大氣腐蝕的機理[59]大氣腐蝕的機理如6所示，為簡單起見，該表面被視為“理論上”的清潔表面。大氣腐蝕的機理[59]大氣腐蝕的機理如6所示，為簡單起見，該表面被視為“理論上”的清潔表面。大氣腐蝕的機理[59]在接中性的電解質溶液中進行大氣腐蝕，有可能發生以下氧還原反應：O2+2H2O+4e-↙4OH-研究表明，大氣總腐蝕速率不受陰極氧還原過程的控制，而是通過陽極反應[60]。陽極半電池過程在簡化的氧化反應中顯示如下：M↙Mn++ne-34腐蝕產物（金屬氧化物和氫氧化物）的形成，腐蝕產物在表面電解質中的溶解度以及鈍化的形成薄膜會影響陽極金屬溶解過程的總體速率，并導致與假設活化控制的簡單速率方程式產生偏差。xdfhjdswefrjhds