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宜興日本KB小直流調(diào)速器維修二十年經(jīng)驗(yàn)（a）基于Rbulk。（b）基于阻抗幅度（|Z|）.109表18還顯示了這兩個測試的灰塵吸濕能力與對阻抗損失的影響之間的強(qiáng)相關(guān)性；具有更大吸濕能力的灰塵對阻抗損失的影響更大。與在相同溫度和RH條件下的水分吸收能力相比，更高的水分吸收能力可以吸收或吸收更多的水分。當(dāng)灰塵沉積在測試板上時(shí)，可以在直流調(diào)速器基板上獲得更多的水分，這是離子從灰塵污染物溶解到水膜中的前提。因此，在兩個相鄰導(dǎo)體之間形成導(dǎo)電路徑，導(dǎo)致阻抗損失。吸濕能力由吸濕性物質(zhì)，亞麻或纖維的百分比以及粉塵粒度分布確定。吸濕性材料是粉塵污染中的關(guān)鍵成分之一，當(dāng)達(dá)到CRH時(shí)，吸濕性材料可以從大氣中吸收和吸附大量水分子，從而增加粉塵中的水分含量。
宜興日本KB小直流調(diào)速器維修二十年經(jīng)驗(yàn)
1、電機(jī)過溫故障
直流調(diào)速器未檢測到所連接電機(jī)的電機(jī)熱量
檢查電機(jī)溫度是否過熱
確保電機(jī)熱量在直流調(diào)速器上正確終止
2、接地故障
檢查從 直流調(diào)速器 到電機(jī)的接線是否有可能的刻痕或裸線接觸地面
檢查電機(jī)是否可能漏電（*在使用絕緣測試儀或兆歐表檢查之前將電機(jī)與 直流調(diào)速器 斷開）
3、電機(jī)過載故障
*直流調(diào)速器 可能會在出現(xiàn)此故障之前短暫運(yùn)行，因?yàn)樗ǔＪ怯梢欢螘r(shí)間內(nèi)的電流過大引起的
檢查電機(jī)和連接的負(fù)載是否存在問題
確保 直流調(diào)速器 的尺寸和配置（電機(jī)參數(shù)）適用于正在運(yùn)行的電機(jī)
4、外部故障
此故障通常是指到它正在監(jiān)控的直流調(diào)速器的外部連接
檢查連接到 直流調(diào)速器 外部故障輸入的外部電路
工程師建議在重要的信號線或本地零件上利用接地。在將用于保護(hù)的接地線添加到外圍設(shè)備時(shí)，正在進(jìn)行路由選擇，以減少諸如時(shí)鐘信號和高速模擬信號之類的干擾信號的影響，信號線位于中間。這是因?yàn)樗蓄愋偷男盘柭酚啥疾荒苄纬森h(huán)路，接地線也不能形成環(huán)路。但是，如果形成環(huán)路路由電路，則會在系統(tǒng)中產(chǎn)生很大的干擾。使用圍繞信號線的接地線進(jìn)行布線的優(yōu)點(diǎn)是可以有效避免布線過程中的環(huán)路。建議在每個集成電路塊附設(shè)置一個或一些高頻去耦電容器。當(dāng)模擬地線或數(shù)字線連接到公共地線時(shí)，應(yīng)使用高頻扼流圈。一些高速信號線需要特殊處理。例如，在同一層上需要差分信號，并且差分信號必須盡可能接并行路由。不能在差分信號線之間插入任何信號，并且每個信號線的長度都應(yīng)相同。
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宜興日本KB小直流調(diào)速器維修二十年經(jīng)驗(yàn)EIS被是一種很有前途的方法，它可以通過建立等效電路來對系統(tǒng)進(jìn)行建模，從而提供有關(guān)粉塵污染的印刷電路組件退化的機(jī)械信息。為了以后的工作，建議使用具有足夠低頻的電化學(xué)儀器進(jìn)行阻抗測量。由于低頻數(shù)據(jù)不足，等效電路中的某些元件本文未提取諸如擴(kuò)散控制阻抗和電荷轉(zhuǎn)移電阻之類的數(shù)據(jù)。如果有更多較低頻率的測量點(diǎn)可用，則可以執(zhí)行更深入的分析。在將來的工作中。還應(yīng)考慮使用與可能的化學(xué)反應(yīng)相關(guān)的電子元件的更模型。眾所周知，設(shè)計(jì)人員正在迅速接印刷電路板的性能。功率密度在上升，并且高溫還會對導(dǎo)體和電介質(zhì)造成嚴(yán)重破壞。升高的溫度-無論是由于功率損耗還是環(huán)境因素引起的-都會影響熱阻抗和電阻抗，導(dǎo)致系統(tǒng)性能不穩(wěn)定，即使不是失敗也是如此。xdfhjdswefrjhds
