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印刷機 美國派克可控硅直流調速器維修編碼器故障結果HAST測試與熱循環相反,對于非常薄的電路板,電化學遷移行為似乎是一個更為關鍵的問題。后續的表9了從HAST測試樣品中獲得的結果。表薄板測試車的HAST測試結果摘要,該表顯示已識別出多個失敗。在當前的研究中,具有HDI外層的樣品–具有完整HDI層的TV1和具有ALIVH-C層的TV2顯示出比TV3更好的HAST性能。對于HAST測試,可以將過孔(V2V)結構視為所評估的三種情況中不嚴重的情況。正如預期的那樣,在這些結構上沒有觀察到任何故障。與V2V情況相反,對于所有測試車輛上的通孔到面結構(V2P)都觀察到了故障。為了更深入地研究這個問題,繪制了失效時間與測試持續時間的關系圖,如圖20所示。
那么如何尋找問題的根源呢?將您的驅動系統視為一組協調工作的區域。當系統出現問題時,將系統分成幾部分以確定從哪里開始查找。主要領域如下:
1、輸入系統
支路保護
來自電機控制中心的輸入接觸器(如果使用)
從電機控制中心或分支電路接線
直流調速器輸入(斷開開關或接觸器)
輸入橋
2、直流調速器本身
3、電機
電機過載??(如果使用)
電機接線和導管
電機斷開(如果使用)
電機接線
電機本身
印刷機 美國派克可控硅直流調速器維修編碼器故障 每個條件的樣本量為3個板。為了評估ECM的故障,在10VDC電場下于50℃和90%RH的恒定溫度下進行測試。這稱為相對溫度濕度偏差(THB)[18]。它產生電壓腐蝕相關的故障機制,并量化不同粉塵沉積測試板的故障時間(TTF)。沒有標準測試來評估灰塵對ECM和腐蝕引起的70阻抗損失的影響。經常選擇測試條件而不考慮故障的物理性質。ECM過程通過一系列步驟進行,這些步驟包括路徑形成,電溶,離子遷移,電沉積和枝晶生長[62]。由于路徑形成步驟的時間很長[63][64],因此ECM評估的持續時間通常在500到1000小時之間。這使得測試對于工業采用是不切實際的。在這項研究中,采用以下方法。首先,確定關鍵的相對濕度范圍和溫度條件。
直流調速器輸入問題可能會導致許多故障。由于線路浪涌或暫降,直流調速器可能會出現過壓或欠壓跳閘。或者,直流調速器可能會出現過流跳閘或可能與電機相關的故障,例如過載。
以檢測可能導致電路故障的老化引起的變化,需要完成其他工程研究,以更好地量化可行技術的實施和運營成本以及收益,并為實施這些技術提供充分的理由,L&C電路板故障的許多原因進展緩慢,這為在完全失效之前測量老化進程的影響提供了可能性。。 評估是通過權衡對NASA任務的影響以及在某些情況下共享測試數據來執行的,直流調速器簡介直流調速器按其形式可分為幾類:剛性,柔性(flex),剛性-flex和高頻,NASA使用的絕大部分直流調速器是剛性類型。。 5.檢查設置伺服放大器正面的端子板蓋后面的7段LED上方有四個通道開關,在使用伺服放大器之前,應按以下說明設置這些開關,(1)職位開關順序編號為1,2,3和4,底部的一個為開關1,OFF位置在左側,ON位置在右側。。
印刷機 美國派克可控硅直流調速器維修編碼器故障在焊點處觀察到一些故障,在將組件主體連接到引線的連接處觀察到一些故障。在直流調速器的振動測試中。以自動檢測損壞直流調速器*s。59在此測試期間,針對1.直流調速器和3.直流調速器檢測到9個故障(9個故障定義了有助于理解分布以及組件類型差異的數值),針對2.直流調速器檢測了11個故障。故障足夠,因此在第6步之后不進行測試。在焊點處觀察到一些故障,在將組件主體連接到引線的連接處觀察到一些故障。在直流調速器的振動測試中,以自動檢測損壞直流調速器*s。59在此測試期間,針對1.直流調速器和3.直流調速器檢測到9個故障(9個故障定義了有助于理解分布以及組件類型差異的數值),針對2.直流調速器檢測了11個故障。xdfhjdswefrjhds