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芯片ESD/EOS測試
芯片ESD/EOS測試
產(chǎn)品價格:(人民幣)
  • 規(guī)格:完善
  • 發(fā)貨地:本地至全國
  • 品牌:
  • 最小起訂量:1個
  • 免費(fèi)會員
    會員級別:試用會員
    認(rèn)證類型:企業(yè)認(rèn)證
    企業(yè)證件:通過認(rèn)證

    商鋪名稱:廣州廣電計(jì)量檢測股份有限公司(總部)

    聯(lián)系人:張海鵬(先生)

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    企業(yè)郵箱:3050677168@qq.com

    聯(lián)系地址:廣東省廣州市天河區(qū)黃埔大道西平云路163號

    郵編:519000

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    商品詳情
      EOS/ESD造成的客退情形不曾間斷,IC過電壓承受能力較低,產(chǎn)品就有損壞風(fēng)險。
        對成品廠商而言,除了要求IC供貨商測試到所要求的ESD防護(hù)等級,對于所選用的IC,其承受EOS的能力也更加關(guān)注。
        GRGT技術(shù)服務(wù)
        廣電計(jì)量(GRGT)能協(xié)助您進(jìn)行測試,提供Test to Fail的驗(yàn)證與失效模式報告。藉此了解芯片組件脆弱點(diǎn)與靜電承受度,作為您后續(xù)系統(tǒng)設(shè)計(jì)、芯片電路設(shè)計(jì)調(diào)整、甚至后續(xù)RMA失效分析的依據(jù)。
        1.人體放電模式(Human Body Mode)測試;
        2.機(jī)器放電模式(Machine Mode)測試;
        3.組件充/放電模式(Charged Device Mode)測試;
        4.制具式組件充/放電模式(Socket-Charge Device Mode)測試;
        5.閂鎖效應(yīng)(Latch-up)測試;
        6.靜電放電閂鎖測式(Transient-Induced Latch up);
        7.系統(tǒng)級靜電放電模式(System ESD Test–ESD GUN TEST);
        8.測試ESD I-V Curve量測;
        9.過度電性應(yīng)力EOS(Electrical Overstress)測試;
        GRGT服務(wù)優(yōu)勢
        l豐富的ESD測試經(jīng)驗(yàn):提供有效的測試方案,讓您能輕易找出產(chǎn)品問題點(diǎn).
        l快速交期:三班制24小時運(yùn)作.
        l測試結(jié)果準(zhǔn)確度:靜電測試設(shè)備搭配自主建立之設(shè)備維修保養(yǎng)機(jī)制定期定檢保障設(shè)備輸出,將可協(xié)助客戶取得高精準(zhǔn)度之測試結(jié)果,降低設(shè)備不正常輸出造成的測試結(jié)果差異。
        公司簡介:
        廣州廣電計(jì)量檢測股份有限公司(GRGT)是原信息產(chǎn)業(yè)部電子602計(jì)量站,經(jīng)過50余年的發(fā)展,現(xiàn)已成為一家全國化、綜合性的國有第三方計(jì)量檢測機(jī)構(gòu),專注于為客戶提供計(jì)量、檢測、認(rèn)證以及技術(shù)咨詢與培訓(xùn)等專業(yè)技術(shù)服務(wù),在計(jì)量校準(zhǔn)、可靠性與環(huán)境試驗(yàn)、元器件篩選與失效分析檢測、車規(guī)元器件認(rèn)證測試、電磁兼容檢測等多個領(lǐng)域的技術(shù)能力及業(yè)務(wù)規(guī)模處于國內(nèi)領(lǐng)先水平。
        GRGT目前具有以下芯片相關(guān)測試能力及技術(shù)服務(wù)能力:
        芯片可靠性驗(yàn)證(RA):
        芯片級預(yù)處理(PC)&MSL試驗(yàn)、J-STD-020&JESD22-A113;
        高溫存儲試驗(yàn)(HTSL),JESD22-A103;
        溫度循環(huán)試驗(yàn)(TC),JESD22-A104;
        溫濕度試驗(yàn)(TH/THB),JESD22-A101;
        高加速應(yīng)力試驗(yàn)(HTSL/HAST),JESD22-A110;
        高溫老化壽命試驗(yàn)(HTOL),JESD22-A108;
        芯片靜電測試(ESD):
        人體放電模式測試(HBM),JS001;
        元器件充放電模式測試(CDM),JS002;
        閂鎖測試(LU),JESD78;
        TLP;Surge/EOS/EFT;
        芯片IC失效分析(FA):
        光學(xué)檢查(VI/OM);
        掃描電鏡檢查(FIB/SEM)
        微光分析定位(EMMI/InGaAs);
        OBIRCH;Micro-probe;
        聚焦離子束微觀分析(FIB);
        彈坑試驗(yàn)(cratering);芯片開封(decap);
        芯片去層(delayer);晶格缺陷試驗(yàn)(化學(xué)法);
        PN結(jié)染色/碼染色試驗(yàn);
        推拉力測試(WBP/WBS);紅墨水試驗(yàn):
        PCBA切片分析(X-section);
        芯片材料分析:
        高分辨TEM(形貌、膜厚測量、電子衍射、STEM、HAADF);
        SEM(形貌觀察、截面觀察、膜厚測量、EBSD);
        Raman(Raman光譜);AFM(微觀表面形貌分析、臺階測量);
        廣州廣電計(jì)量檢測股份有限公司(GRGT)始建于1964年,是原信息產(chǎn)業(yè)部電子602計(jì)量站,經(jīng)過50余年的發(fā)展,現(xiàn)已成為一家全國化、綜合性的國有第三方計(jì)量檢測機(jī)構(gòu)。廣電計(jì)量的資質(zhì)能力處于行業(yè)*水平,其中CNAS認(rèn)可3408項(xiàng),CMA認(rèn)可1990項(xiàng),CATL認(rèn)可覆蓋55個類別;在支撐各區(qū)域產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展過程中,廣電計(jì)量還獲眾多榮譽(yù)稱號。
        廣電計(jì)量打造了一支技術(shù)水平和服務(wù)意識俱佳的服務(wù)隊(duì)伍,現(xiàn)有員工4000多人,其中包括各領(lǐng)域?qū)ia和技術(shù)帶頭人50多人,博士后、博士30人,碩士380多人。
        廣電計(jì)量建有技術(shù)研究院,在新能源汽車、軌道交通、無線通信等領(lǐng)域,先后主持編寫30多項(xiàng)*和地方計(jì)量測試標(biāo)準(zhǔn)及規(guī)程,承擔(dān)50多項(xiàng)國家、省部級等重點(diǎn)科研項(xiàng)目,累計(jì)獲得專利*247項(xiàng),另獲得軟件著作權(quán)119項(xiàng),積極推動了行業(yè)新技術(shù)的創(chuàng)新和產(chǎn)業(yè)化應(yīng)用。
        業(yè)務(wù)聯(lián)系:張經(jīng)理:186-2090+8348;
        郵箱:zhanghp grgtest.com
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  • 0571-87774297  
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